現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
白盒測(cè)試法的覆蓋標(biāo)準(zhǔn)有邏輯覆蓋、循環(huán)覆蓋和基本路徑測(cè)試。其中邏輯覆蓋包括語句覆蓋、判定覆蓋、條件覆蓋、判定/條件覆蓋、條件組合覆蓋和路徑覆蓋。
2019-10-23 09:01:03
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
過程中使用的不同關(guān)鍵技術(shù),F(xiàn)uzz測(cè)試可以分為白盒Fuzz、黑盒Fuzz、灰盒Fuzz三類:其中,黑盒Fuzz測(cè)試效率最高,無需考慮內(nèi)部邏輯結(jié)構(gòu),僅著眼于程序外部結(jié)構(gòu),即可快速驗(yàn)證大量潛在的安全威脅。對(duì)于測(cè)試人員來說
2022-09-15 10:31:46
和PCBA測(cè)試究竟有著怎樣的區(qū)別呢?PCBA檢測(cè)是指對(duì)PCBA電路板進(jìn)行加工質(zhì)量的檢測(cè),需要用到各種PCBA檢測(cè)設(shè)備,如:SPI、AOI、XRAY等,不同的工序需要用到不同的檢測(cè)設(shè)備,,如在錫膏印刷后需要
2022-11-21 20:28:12
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
一 機(jī)頂盒的測(cè)試簡(jiǎn)介1.機(jī)頂盒的原理機(jī)頂盒包括數(shù)字電視機(jī)頂盒和 IP 機(jī)頂盒。數(shù)字電視機(jī)頂盒是一種能提供模擬音頻和視頻接口,使現(xiàn)在的模擬電視機(jī)能正常接收數(shù)字電視節(jié)目;同時(shí)還能提供各類數(shù)據(jù)信息服務(wù)
2010-05-16 20:09:04
撰寫一篇測(cè)試報(bào)告,提供給我們的客戶?! eb滲透的測(cè)試流程: 1.明確目標(biāo)(合同) 確定范圍:甲方所需要的測(cè)試范圍,ip,域名,內(nèi)外網(wǎng)等?! 〈_定規(guī)則:滲透測(cè)試分為白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試 白盒測(cè)試
2021-01-29 17:27:30
項(xiàng)目名稱:基于網(wǎng)絡(luò)的軟件白盒測(cè)試系統(tǒng)試用計(jì)劃:目的:開發(fā)基于網(wǎng)絡(luò)的圖形界面的白盒測(cè)試系統(tǒng)項(xiàng)目名稱:基于網(wǎng)絡(luò)的軟件白盒測(cè)試系統(tǒng)開發(fā)計(jì)劃:7月20,完成系統(tǒng)架構(gòu)。8月10:完成ui設(shè)計(jì)和軟件功能模塊9月1日:完成軟件系統(tǒng)調(diào)試
2020-07-27 15:02:00
完成代碼走查、測(cè)試代碼開發(fā)等白盒測(cè)試工作;5.執(zhí)行測(cè)試用例并進(jìn)行bug的跟蹤,根據(jù)測(cè)試結(jié)果完成測(cè)試報(bào)告;6.參與股票App測(cè)試的全流程,包括參與需求分析、設(shè)計(jì)評(píng)審,制定測(cè)試計(jì)劃,設(shè)計(jì)和執(zhí)行測(cè)試用例,進(jìn)行
2017-07-17 11:39:28
本文列數(shù)了軟件黑盒測(cè)試過程中,在被測(cè)試軟件中可能存在的常見軟件問題。本文不會(huì)詳細(xì)討論基本的軟件測(cè)試思想與常用技術(shù),僅針對(duì)在軟件黑盒測(cè)試過程中若干的問題做描述,并提供個(gè)人的參考測(cè)試意見與防范意見,希望可以為初學(xué)者提供些許幫助。
2019-06-26 07:44:43
軟件測(cè)試其實(shí)就是對(duì)程序進(jìn)行一些操作,來發(fā)現(xiàn)程序所存在的缺陷,衡量軟件的質(zhì)量,并對(duì)其是否能滿足設(shè)計(jì)要求進(jìn)行評(píng)估的過程。
2019-07-22 07:56:47
目錄介紹背景使用代碼下載源22.4 KB介紹有時(shí),單元測(cè)試的邏輯要求使用嵌入到庫中的資源。最有可能的是,該文件保留了黑盒的初始數(shù)據(jù),并已通過單元測(cè)試進(jìn)行了測(cè)試。這篇文章將展示如何使用這類資源。背景
2021-12-21 07:31:05
黑盒方式評(píng)估電源的耗散功率白盒方式計(jì)算電源的耗散功率開關(guān)損耗產(chǎn)生過程詳細(xì)分析電源方案的耗散功率如何計(jì)算?
2021-03-17 06:52:55
有人做這么個(gè)一個(gè)測(cè)試嗎,希望能給予一些幫助或者相關(guān)的資料什么的
2016-08-23 16:18:17
效率和效果常常是不能讓人滿意的。了解過一些軟件測(cè)試的大概知識(shí)如黑盒測(cè)試白盒測(cè)試之類的,但一直不知道如何在工作中去實(shí)施。比如在PC平臺(tái)上的軟件要對(duì)某個(gè)功能模塊進(jìn)行測(cè)試可以寫一段測(cè)試代碼運(yùn)行一下,但在
2019-10-21 09:10:55
使用與實(shí)現(xiàn)缺陷和潛在問題查找同樣復(fù)雜的技術(shù)。與白盒測(cè)試一樣,審查通常針對(duì)軟件的各個(gè)單元進(jìn)行,因?yàn)橐粋€(gè)有效的審查過程要求的是集中而詳盡的檢查。與審查和白盒測(cè)試不同,功能測(cè)試或黑盒測(cè)試假設(shè)對(duì)軟件的實(shí)現(xiàn)
2012-08-22 11:19:08
軟件測(cè)試是很廣的概念。從其貫穿軟件生命周期全過程來看,測(cè)試可分為模塊測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試等階段。測(cè)試還可分為靜態(tài)檢查和動(dòng)態(tài)運(yùn)行測(cè)試兩大類。在動(dòng)態(tài)運(yùn)行測(cè)試中,又可有基于程序結(jié)構(gòu)的白盒測(cè)試(或稱為
2019-09-18 07:23:30
效率的重要工作。目前,裝備嵌入式軟件的自動(dòng)化測(cè)試,更多的還是依賴代碼級(jí)別的白盒測(cè)試工具;黑盒動(dòng)態(tài)測(cè)試還主要是根據(jù)不同的裝備需求,研發(fā)配套的工裝系統(tǒng),測(cè)試效率和測(cè)試深度都有很大缺陷。主要表現(xiàn)在以下幾點(diǎn):...
2021-10-27 06:59:00
結(jié)構(gòu)測(cè)試或白盒測(cè)試能有效地發(fā)現(xiàn)代碼中的邏輯、控制流、計(jì)算和數(shù)據(jù)錯(cuò)誤。這項(xiàng)測(cè)試要求對(duì)軟件的內(nèi)部工作能夠一覽無遺(因此稱為"白盒"或"玻璃盒"),以便了解軟件結(jié)構(gòu)
2019-10-24 07:21:47
盒測(cè)試且價(jià)格昂貴,針對(duì)黑盒測(cè)試,目前還是以人工測(cè)試為主。由于軟件的復(fù)雜程度越來越高,導(dǎo)致人為設(shè)計(jì)測(cè)試用例數(shù)量巨大且無法保證測(cè)試充分性。而對(duì)航天軟件來說,是否滿足任務(wù)要求是軟件的重點(diǎn),因此,從用戶的角度
2019-10-11 08:32:48
;p>測(cè)試手機(jī)的基本功能是否實(shí)現(xiàn),是否有進(jìn)一步測(cè)試的必要性 </p><p>&lt
2008-06-13 13:30:08
進(jìn)行測(cè)試;2、全權(quán)負(fù)責(zé)所分配的軟件測(cè)試相關(guān)任務(wù);3、跟蹤研發(fā)項(xiàng)目中軟件開發(fā),制定軟件測(cè)試計(jì)劃;4、采用白盒測(cè)試技術(shù)、黑盒測(cè)試技術(shù)及嵌入式軟件相關(guān)測(cè)試手段,對(duì)軟件進(jìn)行測(cè)試;5、對(duì)軟件測(cè)試助理工程師進(jìn)行
2013-08-30 14:28:09
機(jī)頂盒測(cè)試方案一 機(jī)頂盒的測(cè)試簡(jiǎn)介1.機(jī)頂盒的原理機(jī)頂盒包括數(shù)字電視機(jī)頂盒和IP 機(jī)頂盒。數(shù)字電視機(jī)頂盒是一種能提供模擬音頻和視頻接口,使現(xiàn)在的模擬電視機(jī)能正常接收數(shù)字電視節(jié)目;同時(shí)還能提供各類數(shù)據(jù)
2008-06-24 12:19:20
機(jī)頂盒測(cè)試方法當(dāng)今電視消費(fèi)市場(chǎng)對(duì)機(jī)頂盒測(cè)試的要求是速度和效率。盡管信號(hào)是復(fù)雜的,但是現(xiàn)代的測(cè)試系統(tǒng)可以使測(cè)試既快捷又準(zhǔn)確。機(jī)頂盒的生產(chǎn)測(cè)試應(yīng)用文章更多的消費(fèi)者由接收模擬電視轉(zhuǎn)向數(shù)字電視。他們追求
2008-06-08 00:15:17
`機(jī)頂盒測(cè)試解決方案`
2011-04-21 09:17:16
機(jī)頂盒EMC測(cè)試指標(biāo)及測(cè)試方法介紹輻射騷擾場(chǎng)強(qiáng)電源端騷擾電壓天線端騷擾電壓騷擾功率射頻輸出端有用信號(hào)和騷擾信號(hào)電平輻射騷擾功率諧波電流電壓波動(dòng)與閃爍
2015-08-24 15:48:37
機(jī)頂盒的生產(chǎn)測(cè)試資料 當(dāng)今電視消費(fèi)市場(chǎng)對(duì)機(jī)頂盒測(cè)試的要求是速度和效率。盡管信號(hào)是復(fù)雜的,但是現(xiàn)代的測(cè)試系統(tǒng)可以使測(cè)試既快捷又準(zhǔn)確。 [hide]機(jī)頂盒的生產(chǎn)測(cè)試.rar[/hide][此貼子已經(jīng)被作者于2009-10-22 11:42:57編輯過]
2009-10-22 11:42:07
灰盒測(cè)試是介于白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試之間的測(cè)試方法,該測(cè)試方法是建立在可以打開被測(cè)裝置內(nèi)部結(jié)構(gòu)但不關(guān)注軟件實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)的基礎(chǔ)上進(jìn)行的關(guān)鍵信息點(diǎn)測(cè)試,這種測(cè)試方法只是通過一些表征性的現(xiàn)象、事件、標(biāo)志來判讀內(nèi)部
2017-08-02 10:05:36
溫升測(cè)試與環(huán)境溫度測(cè)試的區(qū)別是什么?環(huán)境溫度變化對(duì)電機(jī)溫升的影響是什么?
2021-05-06 07:49:11
系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求。 白盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的內(nèi)部工作過程,可以通過測(cè)試證明
2008-10-22 12:42:44
,設(shè)計(jì)并編寫測(cè)試數(shù)據(jù)和測(cè)試用例;4.與研發(fā)、策劃人員保持良好溝通和提供支持,提出合理化建議;5.有移動(dòng)app,平臺(tái)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)優(yōu)先,同時(shí)兼具白盒和黑盒測(cè)試。任職資格1. ??萍耙陨蠈W(xué)歷,5年及以上測(cè)試相關(guān)
2018-01-16 10:58:41
程序接口處進(jìn)行測(cè)試,它只檢查程序功能是否能正常使用,程序是否能接收輸入數(shù)據(jù)產(chǎn)生正確的輸出信息,并且保持外部信息(如數(shù)據(jù)庫或文件)的完整性。黑盒測(cè)試是基于用戶角度進(jìn)行的測(cè)試。2. 白盒
2008-10-22 12:48:08
/軟件集成測(cè)試。前3個(gè)階段適用于任何軟件的測(cè)試,硬件/軟件集成測(cè)試階段是嵌入式軟件所特有的,目的是驗(yàn)證嵌入式軟件與其所控制的硬件設(shè)備能否正確地交互。一般來說,軟件測(cè)試有兩種基本的方式,即白盒測(cè)試方法與黑...
2022-02-28 12:54:03
; 請(qǐng)?jiān)囍容^一下黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別與聯(lián)系?! ?b class="flag-6" style="color: red">黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符合要求?! ?b class="flag-6" style="color: red">白
2008-10-22 12:44:38
有一款配電盒,配電盒有多路不同電壓,電流是有三個(gè)可調(diào)節(jié)的數(shù)值,想設(shè)計(jì)一個(gè)測(cè)試模塊,同時(shí)去采集顯示電壓,麻煩各位大神給個(gè)思路,電路小白不知如何下手,謝謝各位
2019-11-02 11:33:54
集成電路測(cè)試和驗(yàn)證的區(qū)別是什么?
2021-09-27 06:19:12
測(cè)試 測(cè)試測(cè)試測(cè)試
2021-11-22 09:26:58
使用靜態(tài)應(yīng)用程序安全測(cè)試(SAST、白盒測(cè)試)技術(shù),分析和測(cè)試應(yīng)用程序的安全漏洞。White Source SAST 產(chǎn)品檢測(cè)自定義代碼缺陷的速度比傳統(tǒng) SAST 產(chǎn)品
2022-04-02 10:33:45
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】布魯氏桿菌檢測(cè)試劑盒深芬儀器廠家生產(chǎn)的布魯氏桿菌檢測(cè)試劑盒是基于公司科研團(tuán)隊(duì)諸多創(chuàng)新性成果,針對(duì)快速檢測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)在恒定溫度條件下的快速檢測(cè),通過配套機(jī)器CSY-WSW微生物致病菌檢測(cè)儀
2022-05-16 14:26:42
【產(chǎn)品簡(jiǎn)介】副溶血性弧菌檢測(cè)試劑盒深芬儀器廠家生產(chǎn)的副溶血性弧菌檢測(cè)試劑盒是基于公司科研團(tuán)隊(duì)諸多創(chuàng)新性成果,針對(duì)快速檢測(cè)需求,實(shí)現(xiàn)在恒定溫度條件下的快速檢測(cè),副溶血性弧菌檢測(cè)試劑盒通過配套機(jī)器
2022-05-16 14:28:00
本文運(yùn)用黑盒測(cè)試的基本理論,提出了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的測(cè)試模型,分析了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的基本方法和步驟,最后結(jié)合一個(gè)實(shí)際項(xiàng)目說明了FPGA邏輯設(shè)計(jì)的測(cè)試驗(yàn)證過程。關(guān)鍵詞:黑盒
2009-08-19 09:12:419 白度測(cè)試儀 紙張白度是指紙張受光照后反射的能力,用百分率表示。從技術(shù)的觀點(diǎn)來看,紙張及紙板白色程度包括了各種復(fù)雜的因素,它是紙張總光譜反射率、照明能量分布、觀察條件和觀察者特性的函數(shù)
2023-10-12 16:23:39
黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試:已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格,可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符
2008-10-22 12:43:172363 術(shù)語、名詞定義 1. 黑盒測(cè)試
黑盒測(cè)試也稱為功能測(cè)試,它著眼于
2008-10-22 12:49:301259 目前,測(cè)試應(yīng)用正處在新的發(fā)展時(shí)期,眾多軟件企業(yè)已開始重視測(cè)試這個(gè)環(huán)節(jié)。現(xiàn)分析Web網(wǎng)站測(cè)試要點(diǎn),著重介紹了如何設(shè)計(jì)黑盒測(cè)試用例用于網(wǎng)站功能測(cè)試,并提出了網(wǎng)站性能測(cè)試方
2012-11-07 17:37:080 軟件測(cè)試方法一般分為兩種:白盒測(cè)試與黑盒測(cè)試。其中,白盒測(cè)試又稱為結(jié)構(gòu)測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于程序本身的測(cè)試,著重于程序的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及算法,通常不關(guān)心功能與性能指標(biāo)
2013-01-14 10:28:4613945 衡量電機(jī)發(fā)熱程度是用“溫升”而不是用“溫度”。電機(jī)測(cè)試中涉及到溫度的測(cè)試主要時(shí)溫升測(cè)試及環(huán)境溫度測(cè)試,兩者是既有區(qū)別又有聯(lián)系的關(guān)系。
2016-06-03 09:23:353768 目的是采用軟件測(cè)試中的白盒測(cè)試技術(shù)和黑盒測(cè)試技術(shù)對(duì)給出的案例進(jìn)行測(cè)試用例設(shè)計(jì)。從而鞏固所學(xué)的軟件測(cè)試知識(shí),對(duì)軟件測(cè)試有更深層的理解。
2016-06-21 16:27:343 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試,它是通過測(cè)試來檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。在測(cè)試中,把程序看作一個(gè)不能打開的黑盒子,在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特性的情況下,在程序接口進(jìn)行測(cè)試,它只檢查程序功能是否按照
2017-11-02 10:34:0550179 白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試是軟件測(cè)試的兩種基本方法。 白盒測(cè)試又稱結(jié)構(gòu)測(cè)試、透明盒測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于代碼的測(cè)試。白盒測(cè)試是一種測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法,盒子指的是被測(cè)試的軟件,白盒指的是盒子是可視的,你清楚
2017-11-02 11:18:0718223 本文開始介紹了什么是耐壓測(cè)試和介紹進(jìn)行耐壓測(cè)試的原因以及直流與交流耐壓測(cè)試的比較,其次介紹了絕緣測(cè)試的特性,最后介紹了絕緣和耐壓的區(qū)別以及區(qū)分了耐壓測(cè)試與絕緣測(cè)試的區(qū)別。
2018-04-03 09:30:10103243 黑盒測(cè)試:沒有開發(fā)基礎(chǔ)的測(cè)試工程師通常由黑盒測(cè)試做起,不過根據(jù)個(gè)人經(jīng)驗(yàn),這部分工作依然會(huì)給我們帶來很多經(jīng)驗(yàn)性的東西,比如熟悉瀏覽器特性,熟悉公司業(yè)務(wù)流程,業(yè)務(wù)知識(shí),以及測(cè)試用例的設(shè)計(jì)。
2019-04-26 09:52:372018 5月5日,中國(guó)消費(fèi)者協(xié)會(huì)公布了29款智能門鎖比較試驗(yàn)結(jié)果,為驗(yàn)證此傳聞,本次比較試驗(yàn)特別增加了小黑盒攻擊的測(cè)試。測(cè)試結(jié)果顯示28款樣品小黑盒攻擊后門鎖沒有打開,只有1款線上購買的、品牌標(biāo)稱為“亞摩斯”的無生產(chǎn)企業(yè)、無產(chǎn)品型號(hào)標(biāo)注的樣品,被小黑盒攻擊后打開。
2019-05-08 09:40:26745 主要從問題出發(fā),引入接口測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容并與前端測(cè)試進(jìn)行簡(jiǎn)單對(duì)比,總結(jié)兩者之前的區(qū)別與聯(lián)系。但該部分只交代了怎么做和如何做?并沒有解釋為什么要做?
2019-05-26 09:44:584382 耐壓測(cè)試( Withstanding Voltage Test )又稱作高壓測(cè)試( Hipot Test )或介電強(qiáng)度測(cè)試( Dielectric Test ),可能是大家熟悉和在產(chǎn)品流程安全測(cè)試中用的最多的。
2019-05-31 15:58:4314683 嵌入式系統(tǒng)的軟件測(cè)試越來越重要,對(duì)其功能、接口和性能測(cè)試要求也越高,需要一種高效通用的黑盒測(cè)試平臺(tái)。ETest是一款通用的黑盒測(cè)試平臺(tái),針對(duì)嵌入式系統(tǒng)軟件的通用測(cè)試平臺(tái)。用一個(gè)測(cè)試實(shí)例,說明其通用性、易用性、高效性,功能很清大,可實(shí)現(xiàn)廣泛應(yīng)用。
2020-03-11 08:00:007 黑盒測(cè)試(Black-box Testing,又稱為功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試)是把測(cè)試對(duì)象看作一個(gè)黑盒子。利用黑盒測(cè)試法進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試時(shí),需要測(cè)試軟件產(chǎn)品的功能,不需測(cè)試軟件產(chǎn)品的內(nèi)部結(jié)構(gòu)和處理過程。
2020-06-29 10:45:312566 黑盒測(cè)試也是功能測(cè)試,測(cè)試中把被測(cè)的軟件當(dāng)成一個(gè)黑盒子,不關(guān)心盒子的內(nèi)部結(jié)構(gòu)是什么,只關(guān)心軟件的輸入數(shù)據(jù)和輸出數(shù)據(jù)。
2020-06-29 11:00:1915975 α測(cè)試和β測(cè)試的區(qū)別
2020-06-29 11:22:4925177 詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例
2020-08-19 17:07:215794 靜態(tài)測(cè)試,動(dòng)態(tài)測(cè)試的區(qū)別:程序是否運(yùn)行。
2020-08-19 17:13:588475 測(cè)試的區(qū)別3.1 嵌入式軟件測(cè)試的各個(gè)階段測(cè)試的環(huán)境是不一樣的交叉開發(fā):交叉開發(fā)環(huán)境:交叉編譯:GUN工具鏈:3.1.1 單元測(cè)試階段3.1.2 集成測(cè)試階段3.1.3 系統(tǒng)測(cè)試和確認(rèn)測(cè)試3.2
2021-10-21 13:06:0829 本文主要詳細(xì)介紹回路電阻測(cè)試儀與直流電阻測(cè)試儀的區(qū)別是什么?
2022-01-29 16:04:004107 使用近場(chǎng)探頭測(cè)試與遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試的區(qū)別近場(chǎng)電磁干擾(EMI)測(cè)試是電磁兼容性(EMC)輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來測(cè)試3或10米距離上的被測(cè)設(shè)備
2022-03-16 14:38:295518 高壓測(cè)試(Hipot)測(cè)試是?個(gè)?常通?的測(cè)試,可?于許多應(yīng)?,從研發(fā)和形式檢測(cè),再到產(chǎn)品下線檢測(cè),甚?在維修后都會(huì)應(yīng)用。
2022-05-31 11:32:082696 隨機(jī)測(cè)試是一種使用隨機(jī)、相互獨(dú)立的程序輸入來對(duì)計(jì)算機(jī)程序進(jìn)行測(cè)試的黑盒軟件測(cè)試(在完全忽略程序內(nèi)部實(shí)現(xiàn)細(xì)節(jié)的情況下進(jìn)行測(cè)試)技術(shù)。在處理完隨機(jī)且獨(dú)立的程序輸入后,程序輸出的結(jié)果將會(huì)和軟件規(guī)格說明(software specifications)中所描述的軟件行為進(jìn)行比對(duì)來判斷該測(cè)試是否通過。
2022-11-18 10:14:12868 ,檢查軟件是否有缺陷。其目的是檢查其是否滿足規(guī)定的要求,或者找出預(yù)期結(jié)果與實(shí)際結(jié)果的區(qū)別。 ? 硬件測(cè)試和軟件測(cè)試的區(qū)別主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方面: 一.測(cè)試對(duì)象的差異 硬件測(cè)試簡(jiǎn)單點(diǎn)講是對(duì)硬件的測(cè)試,包含硬件電子元
2022-11-20 11:25:261210 黑盒測(cè)試 又叫 功能測(cè)試、數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試 或 基于需求規(guī)格說明書的功能測(cè)試。該類測(cè)試注重于測(cè)試軟件的功能性需求。
2022-11-21 09:32:271562 什么是功能測(cè)試? 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試,不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí),重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試,我們需要
2023-01-03 17:07:351215 軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試是軟件測(cè)試過程中的兩個(gè)階段。驗(yàn)收測(cè)試是部署軟件之前的最后一個(gè)測(cè)試操作。在軟件產(chǎn)品完成了單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之后,產(chǎn)品發(fā)布 之前所進(jìn)行的軟件測(cè)試活動(dòng)。它是技術(shù)測(cè)試的最后
2023-05-06 21:32:23460 本次為大家介紹VectorCAST/C++在軟件測(cè)試方面的軟件黑盒測(cè)試。
2022-08-01 14:16:58342 本文介紹通過VectorCAST實(shí)現(xiàn)代碼黑盒測(cè)試的一種方法:庫接口測(cè)試Library Interface Testing,可以利用工具為API創(chuàng)建測(cè)試用例,來驗(yàn)證應(yīng)用程序庫函數(shù)的正確性,而無需訪問源代碼。
2022-08-04 14:37:32566 自然語言,測(cè)試用例都很容易閱讀和維護(hù)。TPT支持多種測(cè)試方法。功能黑盒測(cè)試、結(jié)構(gòu)或白盒測(cè)試、模塊測(cè)試、集成測(cè)試: 所有這些測(cè)試方法都可以很容易地用TPT建模。
2022-11-25 11:15:50608 千帕(Kpa)氣密性測(cè)試和打壓試驗(yàn)各有側(cè)重,但目的都是為了提高產(chǎn)品的可靠性與安全性。正確進(jìn)行相關(guān)測(cè)試,是制造高質(zhì)量產(chǎn)品的重要一環(huán)。氣密性測(cè)試和打壓試驗(yàn)的區(qū)別簡(jiǎn)單來說
2023-08-01 08:34:14820 汽車行業(yè)中,任何一款產(chǎn)品的上線都離不開測(cè)試工作,在整個(gè)測(cè)試工作中,測(cè)試人員通過使用不同的測(cè)試技術(shù)來創(chuàng)建測(cè)試用例,保證測(cè)試活動(dòng)的全面性和高效性。根據(jù)ISTQB可以將測(cè)試技術(shù)分為黑盒、白盒和基于經(jīng)驗(yàn)
2023-09-07 08:27:13357 PCB的測(cè)試架跟PCBA測(cè)試架的原理都很簡(jiǎn)單,兩個(gè)都是通過金屬探針去連接PCB板上的焊盤和測(cè)試點(diǎn),在PCB板通電的情況下,獲取測(cè)試電路的電壓值和電流值等典型數(shù)值跟現(xiàn)象,通過得到的參數(shù)來檢驗(yàn)產(chǎn)品是否合格。
2023-11-24 10:02:14257 單相、三相、六相繼電保護(hù)測(cè)試儀幾者之間區(qū)別分析? 單相、三相和六相繼電保護(hù)測(cè)試儀是用于電力系統(tǒng)中的繼電保護(hù)設(shè)備測(cè)試和校準(zhǔn)的儀器。雖然它們?cè)?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試不同類型的保護(hù)設(shè)備方面有所不同,但都具有重要的作用。下面
2023-12-19 16:07:06313 耐壓測(cè)試是一種常用的電氣測(cè)試方法,用于檢測(cè)電氣設(shè)備在額定電壓下的絕緣性能。耐壓測(cè)試可以分為交流耐壓測(cè)試和直流耐壓測(cè)試兩種類型。本文將詳細(xì)介紹交流耐壓測(cè)試和直流耐壓測(cè)試的區(qū)別。 優(yōu)缺點(diǎn)區(qū)別 交流耐壓
2024-01-11 14:30:13631
評(píng)論
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