失效分析是指研究產(chǎn)品潛在的或顯在的失效機(jī)理,失效概率及失效的影響等,為確定產(chǎn)品的改進(jìn)措施進(jìn)行系統(tǒng)的調(diào)查研究工作,是可靠性設(shè)計(jì)的重要組成部分。失效
2009-07-03 14:33:233510 節(jié)能燈功率管失效機(jī)理分析
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1引言
節(jié)能燈作為一種環(huán)保型的電源,在全世界得到了廣泛的
2009-07-29 12:20:19824 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:0012633 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。 失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。 1、電阻器的主要失效模式與失效機(jī)理為 1) 開路:主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落,基體斷裂,引線
2018-01-16 08:47:1129565 焊點(diǎn)的可靠性實(shí)驗(yàn)工作,包括可靠性實(shí)驗(yàn)及分析,其目的一方面是評價(jià)、鑒定集成電路器件的可靠性水平,為整機(jī)可靠性設(shè)計(jì)提供參數(shù);另一方面,就是要提高焊點(diǎn)的可靠性。這就要求對失效產(chǎn)品作必要的分析,找出失效模式
2022-08-10 10:57:132112 電子元器件的主要失效模式包括但不限于開路、短路、燒毀、爆炸、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。
2022-10-24 16:10:442330 所以掌握各類電子元器件的實(shí)效機(jī)理與特性是硬件工程師比不可少的知識。下面分類細(xì)敘一下各類電子元器件的失效模式與機(jī)理。
2023-02-01 10:32:471255 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331 完整性、品種、規(guī)格等方面)來劃分材料失效的類型。對機(jī)械產(chǎn)品可按照其相應(yīng)規(guī)定功能來分類。 2.2 按材料損傷機(jī)理分類 根據(jù)機(jī)械失效過程中材料發(fā)生變化的物理、化學(xué)的本質(zhì)機(jī)理不同和過程特征差異
2011-11-29 16:46:42
明確其失效模式,失效模式是指失效的外在直觀失效表現(xiàn)形式和過程規(guī)律,通常指測試觀察到的失效現(xiàn)象、失效形式,如開路、短路、參數(shù)漂移、功能失效等。要明確失效模式,首先要細(xì)心收集失效現(xiàn)場數(shù)據(jù)。一般情況下失效
2020-08-07 15:34:07
”——電阻失效了!失效的電阻阻值發(fā)生變化,甚至出現(xiàn)了開路現(xiàn)象,為什么會這樣呢?下面對3種常見的電阻失效機(jī)理進(jìn)行分析探討。1、開路失效分析A、電阻斷裂開路電阻斷裂開路多發(fā)生在片式厚膜電阻器上,究其原因
2011-07-25 14:48:18
`電阻器常見的失效模式 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式?! ?b class="flag-6" style="color: red">失效機(jī)理:導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。1、電阻器的主要失效模式 1) 開路:主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落
2019-02-12 16:48:18
`v失效:產(chǎn)品失去規(guī)定的功能。v失效分析:為確定和分析失效器件的失效模式,失效機(jī)理,失效原因和失效性質(zhì)而對產(chǎn)品所做的分析和檢查。v失效模式:失效的表現(xiàn)形式。v失效機(jī)理:導(dǎo)致器件失效的物理,化學(xué)變化
2011-11-29 17:13:46
丟失、數(shù)據(jù)寫入出錯(cuò)、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問題,嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此,有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對失效的IC卡進(jìn)行分析,深入研究其失效模式及失效機(jī)理,探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
IGBT傳統(tǒng)防失效機(jī)理是什么IGBT失效防護(hù)電路
2021-03-29 07:17:06
IGBT的失效機(jī)理 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)(Safe Operating Area簡稱SOA
2017-03-16 21:43:31
MOSFET的失效機(jī)理至此,我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET,首先不能超過MOSFET規(guī)格書中的絕對最大
2022-07-26 18:06:41
`請問SMT焊點(diǎn)的主要失效機(jī)理有哪些?`
2019-12-24 14:51:21
用的數(shù)量很大,并且是一種消耗功率的元件,由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類,即致命
2018-01-03 13:25:47
熱擊失效模式扭曲破裂失效
2021-03-03 06:23:05
次的失效原因即是下一層次的失效現(xiàn)象。越是低層次的失效現(xiàn)象,就越是本質(zhì)的失效原因。基本概念 1.1 失效和失效分析 產(chǎn)品喪失規(guī)定的功能稱為失效。 判斷失效的模式,查找失效原因和機(jī)理,提出預(yù)防再失效
2011-11-29 16:39:42
過大而熱擊穿的情況。此外,溫度升高也將使電感線圈、變壓器、扼流圈等的絕緣性能下降。3、濕度導(dǎo)致失效濕度過高,當(dāng)含有酸堿性的灰塵落到電路板上時(shí),將腐蝕元器件的焊點(diǎn)與接線處,造成焊點(diǎn)脫落,接頭斷裂。濕度
2020-09-19 07:59:36
元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理,提出糾正措施,防止這種失效模式和失效機(jī)理的重復(fù)出現(xiàn)。3、失效
2016-10-26 16:26:27
失效分析基本概念定義:對失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理,提出糾正措施,防止這種失效
2016-12-09 16:07:04
的失效加速因子。與潮氣導(dǎo)致失效加速有關(guān)的機(jī)理包括粘結(jié)面退化、吸濕膨脹應(yīng)力、水汽壓力、離子遷移以及塑封料特性改變等等。潮氣能夠改變塑封料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度Tg、彈性模量和體積電阻率等特性。溫度是另一個(gè)關(guān)鍵
2021-11-19 06:30:00
` 壓敏電阻的失效模式通常是短路,為了防止壓敏電阻的失效造成電源短路而起火,可以在每個(gè)壓敏電阻上串聯(lián)一個(gè)溫度保險(xiǎn)管或熱脫離機(jī)構(gòu)。溫度保險(xiǎn)管應(yīng)與壓敏電阻有良好的熱耦合,當(dāng)壓敏電阻失效(高阻抗短路
2017-06-09 14:59:00
在電路系統(tǒng)中頻繁出現(xiàn),則壓敏電阻器就會頻繁動(dòng)作以抑制過電壓幅值和吸收釋放浪涌能量,這勢必會導(dǎo)致壓敏電阻器的性能劣化?! ≡趬好?b class="flag-6" style="color: red">電阻器的應(yīng)用過程中,當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時(shí),常見的劣化模式有兩種,第一種是開路
2016-01-13 11:29:04
中使用的數(shù)量很大,并且是一種消耗功率的元件,由于電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器失效的模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)和使用條件等有密切關(guān)系。電阻器的失效可分為兩大類
2019-09-07 07:30:00
機(jī)理視類型不同而不同。非線形電阻器和電位器主要失效模式為開路、阻值漂移、引線機(jī)械損傷和接觸損壞;線繞電阻器和電位器主要失效模式為開路、引線機(jī)械損傷和接觸損壞。主要有以下四類: (1 )碳膜電阻器。引線
2018-01-02 14:40:37
機(jī)理視類型不同而不同。非線形電阻器和電位器主要失效模式為開路、阻值漂移、引線機(jī)械損傷和接觸損壞;線繞電阻器和電位器主要失效模式為開路、引線機(jī)械損傷和接觸損壞。主要有以下四類: (1 )碳膜電阻器。引線
2018-01-05 14:46:57
中使用的數(shù)量很大,并且是一種消耗功率的元件,由于電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器失效的模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)和使用條件等有密切關(guān)系。電阻器的失效可分為兩大類
2019-10-08 08:00:00
上表現(xiàn)為過溫。3、IGBT過溫,計(jì)算壽命,與焊點(diǎn)、材料的熱膨脹系數(shù)等有關(guān)。4、求助上面幾個(gè)失效模式的分析,也可以大家討論一下,共同進(jìn)步
2012-12-19 20:00:59
提高電力電子器件的應(yīng)用可靠性顯得尤為重要。一、失效分析簡介失效分析的過程一般是指根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的過程。器件失效是指其功能完全或
2019-10-11 09:50:49
型、功能型失效模式和其他失效模式。在此針對系統(tǒng)中導(dǎo)致電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效,影響整車正常運(yùn)行的元件或部件失效進(jìn)行分析。(2)電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效機(jī)理分析針對電機(jī)控制器,選取以下幾種失效模式進(jìn)行機(jī)理分析。①過壓
2016-04-05 16:04:05
`電容器的常見失效模式和失效機(jī)理【上】電容器的常見失效模式有――擊穿短路;致命失效――開路;致命失效――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效――漏液
2011-11-18 13:16:54
`電容器的常見失效模式和失效機(jī)理【下】3.2.6鋁電解電容器的失效機(jī)理鋁電解電容器正極是高純鋁,電介質(zhì)是在金屬表面形成的三氧化二鋁膜,負(fù)極是黏稠狀的電解液,工作時(shí)相當(dāng)一個(gè)電解槽。鋁電解電容器常見失效
2011-11-18 13:19:48
`電容器的常見失效模式和失效機(jī)理【中】3.2電容器失效機(jī)理分析3.2.1潮濕對電參數(shù)惡化的影響空氣中濕度過高時(shí),水膜凝聚在電容器外殼表面,可使電容器的表面絕緣電阻下降。此處,對于半密封結(jié)構(gòu)電容器來說
2011-11-18 13:18:38
、性能和使用環(huán)境各不相同,失效機(jī)理也各不一樣。各種常見失效模式的主要產(chǎn)生機(jī)理歸納如下。3.1失效模式的失效機(jī)理3.1.1 引起電容器擊穿的主要失效機(jī)理3.1.2 引起電容器開路的主要失效機(jī)理3.1.3
2011-12-03 21:29:22
電阻器失效模式與機(jī)理壓力釋放裝置動(dòng)作瞬時(shí)過電壓的產(chǎn)生電解液干涸是鋁電解電容器失效的最主要原因電解液干涸的時(shí)間就是鋁電解電容器的壽命影響鋁電解電容器壽命的參數(shù)與應(yīng)用條件半導(dǎo)體器件失效分析
2021-02-24 09:21:41
的電阻器是電動(dòng)機(jī)的重要組成部分之一,其主要作用是控制電機(jī)的轉(zhuǎn)速和保護(hù)電機(jī)。通常,減速機(jī)與電機(jī)的搭配需要考慮電機(jī)電阻器的參數(shù),如阻值、功率、溫度等。如果減速機(jī)與電機(jī)不匹配,就會導(dǎo)致電機(jī)電阻器失效,產(chǎn)生各種
2023-03-07 15:22:56
請問一下元器件失效機(jī)理有哪幾種?
2021-06-18 07:25:31
一、腐蝕腐蝕主要與連接器接觸界面和表面處理有關(guān)。腐蝕導(dǎo)致連接器電阻增加的兩個(gè)主要機(jī)理為:1)連接器的金屬表面鍍層形成于接觸界面和空氣的化學(xué)反應(yīng);2)腐蝕性的的物質(zhì)滲透至接觸界面而導(dǎo)致接觸區(qū)域減少
2018-01-15 11:55:46
一、腐蝕腐蝕主要與連接器接觸界面和表面處理有關(guān)。腐蝕導(dǎo)致連接器電阻增加的兩個(gè)主要機(jī)理為:1)連接器的金屬表面鍍層形成于接觸界面和空氣的化學(xué)反應(yīng);2)腐蝕性的的物質(zhì)滲透至接觸界面而導(dǎo)致接觸區(qū)域減少
2018-02-26 13:21:51
一、腐蝕腐蝕主要與連接器接觸界面和表面處理有關(guān)。腐蝕導(dǎo)致連接器電阻增加的兩個(gè)主要機(jī)理為:1)連接器的金屬表面鍍層形成于接觸界面和空氣的化學(xué)反應(yīng);2)腐蝕性的的物質(zhì)滲透至接觸界面而導(dǎo)致接觸區(qū)域減少
2018-05-09 10:19:35
用的壓敏電阻器極限承受能力,則壓敏電阻器在抑制過電壓時(shí)將會發(fā)生陶瓷炸裂現(xiàn)象;(3)穿孔,若過電壓峰值特別高,導(dǎo)致壓敏電阻器陶瓷瞬間發(fā)生擊穿,表現(xiàn)為穿孔。其中,在進(jìn)行分級防雷保護(hù)前提下,壓敏電阻器的失效模式
2020-12-16 17:15:03
FMEA失效模式公析表:被分析的項(xiàng)目或操作 潛能失效模態(tài) 潛在的失效效應(yīng) 嚴(yán)重度 失敗的潛能因素/機(jī)制 發(fā)生度 現(xiàn)在的設(shè)計(jì)或制程控制 難檢度 風(fēng)險(xiǎn)數(shù) 
2009-08-17 08:09:1730 失效分析中的模式思維方法:對事故模式和失效模式的歸納總結(jié),從中引伸出預(yù)防事故或失效的新認(rèn)識或新概念.關(guān)健詞:失效模式;失效分析;安全性工程
2009-12-18 11:28:1034 PTC的失效模式
衡量PTC熱敏電阻器可靠性有兩個(gè)主要指標(biāo):
A.耐電壓能力----超過規(guī)定的電壓可導(dǎo)致PTC熱敏電阻器短路擊穿, 施加高電壓可淘汰
2009-10-01 12:51:024396 PTC的失效模式分析
●衡量PTC熱敏電阻器可靠性有兩個(gè)主要指標(biāo):
A.耐電壓能力----超過規(guī)定的電壓可導(dǎo)致PTC熱敏電阻器短路擊穿,施加高電壓可淘汰耐壓低的產(chǎn)
2009-11-28 09:12:453468 從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機(jī)理
1、? 引言
半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之
2010-02-22 09:32:422665 通過剖析一晶體管的失效機(jī)理, 給出了對此類晶體管失效分析的方法和思路。討論了晶體管存在異物、芯片粘結(jié)失效和熱應(yīng)力失效等失效模式。
2012-03-15 14:18:0830 判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 本文共討論了MEMS加速計(jì)的三種高壓滅菌器失效機(jī)理。分別說明了每一種失效機(jī)理的FA方法(通過建模和測量)和設(shè)計(jì)改進(jìn)。排除了封裝應(yīng)力作為高壓滅菌器失效的根源。
2013-01-24 10:39:191261 基于集成電路應(yīng)力測試認(rèn)證的失效機(jī)理中文版
2016-02-25 16:08:1110 高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機(jī)理研究,IGBT原理,PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效模式分類 根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機(jī)理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時(shí)間以及失效產(chǎn)生的后果,可將失效進(jìn)行不同的分類。電動(dòng)觀光車常見的失效模式可以分為:損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)
2017-03-09 01:43:231760 元器件長期儲存的失效模式和失效機(jī)理
2017-10-17 13:37:3420 元器件的長期儲存的失效模式和失效機(jī)理
2017-10-19 08:37:3432 對電子元器件的失效分析技術(shù)進(jìn)行研究并加以總結(jié)。方法 通過對電信器類、電阻器類等電子元器件的失效原因、失效機(jī)理等故障現(xiàn)象進(jìn)行分析。
2018-01-30 11:33:4110911 電容器的常見失效模式有:――擊穿短路;致命失效――開路;致命失效――電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等;部分功能失效――漏液;部分功能失效――引線腐蝕或斷裂;致命失效――絕緣子破裂;致命失效――絕緣子表面飛??;
2018-03-15 11:00:1026173 針對電阻制動(dòng)系統(tǒng)在多種失效模式下的建模問題,對電阻制動(dòng)系統(tǒng)的建模方法和可靠性模型參數(shù)估計(jì)方法進(jìn)行了研究,對電阻制動(dòng)系統(tǒng)易損件及相應(yīng)的失效模式進(jìn)行了統(tǒng)計(jì),提出一種基于故障樹的多失效模式可靠性建模方法
2018-03-26 16:03:020 本文通過大量的歷史資料調(diào)研和失效信息收集等方法,針對不同環(huán)境應(yīng)力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機(jī)理進(jìn)行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:456950 本文主要對變壓器線圈常見的三種失效機(jī)理進(jìn)行了介紹,另外還對電感和變壓器類失效機(jī)理與故障進(jìn)行了分析。
2018-05-31 14:41:529637 常見的電阻有壓敏電阻,防雷一般都會使用到的。壓敏電阻的失效模式主要為短路,如果短路時(shí)間過長,會發(fā)生爆炸、起火,損壞周邊的部件;也有可能出現(xiàn)開路。壓敏電阻的失效保護(hù)方式有哪幾種呢,一起跟小編來看
2018-06-01 14:06:55830 或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。今天主要說的是電容器,電阻器和電感。 電容器失效模式與機(jī)理 電容器的常見失效模式有:擊穿短路;致命失效開路;致命失效電參數(shù)變化(包括電容量超差、損耗
2018-06-07 15:18:137238 LED燈珠是一個(gè)由多個(gè)模塊組成的系統(tǒng)。每個(gè)組成部分的失效都會引起LED燈珠失效。 從發(fā)光芯片到LED燈珠,失效模式有將近三十種,如表1,LED燈珠的失效模式表所示。這里將LED從組成結(jié)構(gòu)上分為芯片和外部封裝兩部分。 那么, LED失效的模式和物理機(jī)制也分為芯片失效和封裝失效兩種來進(jìn)行討論。
2018-07-12 14:34:007818 電容器在工作應(yīng)力與環(huán)境應(yīng)力綜合作用下,工作一段時(shí)間后,會分別或同時(shí)產(chǎn)生某些失效模式。同一失效模式有多種失效機(jī)理,同一失效機(jī)理又可產(chǎn)生多種失效模式。失效模式與失效機(jī)理之間的關(guān)系不是一一對應(yīng)的。
2018-08-07 17:45:565294 比較高,據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器失效的模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)和使用條件等有密切關(guān)系。電阻器的失效可分為兩大類:致命失效和參數(shù)漂移失效。根據(jù)統(tǒng)計(jì),致命失效是電阻器失效的主因,佔(zhàn)總故障85%~90%。其中包括斷路、機(jī)械損傷、接觸損壞、短路、絕緣和擊穿等原因,只有10%左右是由阻值漂移導(dǎo)致失效。
2019-07-23 15:06:2410608 外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀器,如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查PCB的外觀,尋找失效的部位和相關(guān)的物證,主要的作用就是失效定位和初步判斷PCB的失效模式。
2020-03-06 14:30:351913 模式不會引起燃燒現(xiàn)象。短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過電壓破壞兩種類型。 首先我們來看壓敏電阻器的老化失效問題。這一問題主要指的是電阻體的低阻線性逐步加劇,此時(shí)漏電流將會惡性增加且集中注入薄弱點(diǎn),導(dǎo)致薄弱點(diǎn)材
2020-03-23 16:19:057343 或者全失效會在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間,有時(shí)甚至炸機(jī)。 所以掌握各類電子元器件的實(shí)效機(jī)理與特性是硬件工程師比不可少的知識。下面分類細(xì)敘一下各類電子元器件的失效模式與機(jī)理。 電阻器失效 失效模式:各種失效的
2020-06-29 11:15:216642 下圖為貼片電阻結(jié)構(gòu)圖: 失效背景:電阻開路 問題分析:從失效樣品圖片來看,電阻本體沒有電應(yīng)力和結(jié)構(gòu)損傷。如果沒有電應(yīng)力和結(jié)構(gòu)損傷,一般是由于電極開路造成的失效,確定好失效模式和機(jī)理就可以針對性進(jìn)行
2021-12-11 10:11:592702 或斷裂;致命失效 ――絕緣子破裂;致命失效 ――絕緣子表面飛弧;部分功能失效 引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同,失效機(jī)理也各不一樣。 各種常見失效模式的主要產(chǎn)
2021-12-11 10:13:532688 失效模式:各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機(jī)理:是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程。
2022-02-10 09:49:0618 MOSFET的失效機(jī)理 本文的關(guān)鍵要點(diǎn) ?SOA是“Safety Operation Area”的縮寫,意為“安全工作區(qū)”。 ?需要在SOA范圍內(nèi)使用MOSFET等產(chǎn)品。 ?有五個(gè)SOA的制約要素
2022-03-19 11:10:072544 摘要:常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路,瞬變電壓抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦發(fā)生短路失效,釋放出的高能量常常會將保護(hù)的電子設(shè)備損壞.這是 TvS 生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免
2022-10-11 10:05:014603 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484174 PCB失效的機(jī)理,必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是,首先必須基于失效現(xiàn)象,通過信息收集、功能測試、電性能測試以及簡單的外觀檢查,確定失效部位與失效模式,即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48691 MOSFET的失效機(jī)理本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?SOA是“Safety Operation Area”的縮寫,意為“安全工作區(qū)”。?需要在SOA范圍內(nèi)使用MOSFET等產(chǎn)品。
2023-02-13 09:30:071143 MOSFET的失效機(jī)理本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時(shí)流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過基極電阻RB,使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08829 引 言 電阻失效發(fā)生的機(jī)理是多方面的,環(huán)境或工作條件若發(fā)生變化都有可能造成電阻的失效。其中,因外部水汽或其它腐蝕性氣體等造成電阻膜腐蝕,進(jìn)而導(dǎo)致電阻開路或阻值變大的失效情景時(shí)有發(fā)生。本文依據(jù)此,進(jìn)行
2023-02-20 15:37:48955 今天梳理一下IGBT現(xiàn)象級的失效形式。 失效模式根據(jù)失效的部位不同,可將IGBT失效分為芯片失效和封裝失效兩類。引發(fā)IGBT芯片失效的原因有很多,如電源或負(fù)載波動(dòng)、驅(qū)動(dòng)或控制電路故障、散熱裝置故障
2023-02-22 15:05:4319 介紹了TVS瞬態(tài)抑制二極管的組成結(jié)構(gòu),失效機(jī)理和質(zhì)量因素,希望對你們有所幫助。
2023-03-16 14:53:571 MOSFET等開關(guān)器件可能會受各種因素影響而失效。因此,不僅要準(zhǔn)確了解產(chǎn)品的額定值和工作條件,還要全面考慮電路工作中的各種導(dǎo)致失效的因素。本系列文章將介紹MOSFET常見的失效機(jī)理。
2023-03-20 09:31:07638 失效率是可靠性最重要的評價(jià)標(biāo)準(zhǔn),所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041117 常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路,瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效,釋放出的高能量常常會將保護(hù)的電子設(shè)備損壞.這是TVS生產(chǎn)廠家和使用方都想極力減少或避免的情況
2023-05-12 17:25:483679 失效模式與FMEDA-第88期-PART01失效模式首先,何謂失效?ISO26262中對“故障”、“錯(cuò)誤”、“失效”的定義如下:故障(Fault):可引起要素或相關(guān)項(xiàng)失效的異常情況。錯(cuò)誤(Error
2023-03-06 10:36:324330 集成電路封裝失效機(jī)理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機(jī)械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。
2023-06-26 14:11:26715 集成電路封裝失效機(jī)理是指與集成電路封裝相關(guān)的,導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機(jī)械、氣候環(huán)境和輻射等各類應(yīng)力因素及其相互作用過程。根據(jù)應(yīng)力條件的不同,可將失效機(jī)理劃分為電應(yīng)力失效機(jī)理、溫度-機(jī)械應(yīng)力失效
2023-06-26 14:15:31603 本文通過對典型案例的介紹,分析了鍵合工藝不當(dāng),以及器件封裝因素對器件鍵合失效造成的影響。通過對鍵合工藝參數(shù)以及封裝環(huán)境因素影響的分析,以及對各種失效模式總結(jié),闡述了鍵合工藝不當(dāng)及封裝不良,造成鍵合本質(zhì)失效的機(jī)理;并提出了控制有缺陷器件裝機(jī)使用的措施。
2023-07-26 11:23:15930 PCB熔錫不良現(xiàn)象背后的失效機(jī)理
2023-08-04 09:50:01545 電阻膜腐蝕造成電阻失效的發(fā)生機(jī)理為:外部水汽通過表面樹脂保護(hù)層浸入到電阻膜層,在內(nèi)部電場作用下,發(fā)生水解反應(yīng)。電阻膜表面殘留的K離子、Na離子極易溶于水,加速了電阻膜的水解反應(yīng),致使電阻膜腐蝕失效。
2023-08-18 11:41:371102 肖特基二極管失效機(jī)理? 肖特基二極管(Schottky Barrier Diode, SBD)作為一種快速開關(guān)元件,在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是,隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08971 保護(hù)器件過電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45266 壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同,如表1所示。本文針對兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ),尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07721 電阻器是一種常見的電子元件,用于限制電流的流動(dòng)。在電路中,電阻器起著重要的作用,但在使用過程中可能會出現(xiàn)失效的情況。本文將介紹電阻器的失效模式和機(jī)理。 一、失效模式 開路失效:電阻器的阻值變?yōu)闊o窮大
2024-01-18 17:08:30441
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