本文將詳細(xì)介紹電源測(cè)試中的極限測(cè)試，包括模塊輸出電流極限測(cè)試、靜態(tài)高壓輸入、溫升極限測(cè)試、EFT抗擾性測(cè)試、溫度沖擊強(qiáng)化試驗(yàn)、低溫步進(jìn)試驗(yàn)、高溫步進(jìn)試驗(yàn)、絕緣強(qiáng)度極限試驗(yàn)等。##驗(yàn)證樣品正常工作溫度下限和產(chǎn)品損壞溫度下限。
2014-03-04 11:54:08
7174 本文將詳細(xì)介紹電源測(cè)試中的白盒測(cè)試，包括輔助電源測(cè)試、驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試、功率半導(dǎo)體器件的應(yīng)力測(cè)試、磁性器件的測(cè)試、DC/DC反饋環(huán)測(cè)試、PFC性能測(cè)試等##功率半導(dǎo)體器件主要包括：DCDC的主功率管
2014-03-05 10:56:0318934 現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
削弱以至于消失，電路和系統(tǒng)的可測(cè)試性急劇下降，測(cè)試成本在電路和系統(tǒng)總成本中所占的比例不斷上升，常規(guī)測(cè)試方法正面臨著日趨嚴(yán)重的測(cè)試困難。PCB可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)要概述在電路的邏輯設(shè)計(jì)完成后，通常是以手工
2018-09-19 16:17:24
更多的附加價(jià)值。為了順利地實(shí)施這些措施，在產(chǎn)品科研開(kāi)發(fā)階段，就必須有相應(yīng)的考慮。1、什么是可測(cè)試性 可測(cè)試性的意義可理解為：測(cè)試工程師可以用盡可能簡(jiǎn)單的方法來(lái)檢測(cè)某種元件的特性，看它能否滿足預(yù)期
2014-11-19 11:47:21
產(chǎn)品設(shè)計(jì)的可測(cè)試性(De sign For Testability. OFT) 也是產(chǎn)品可制造性的主要內(nèi)容從生產(chǎn)角度考慮也是設(shè)計(jì)的工藝性之一。它是指在設(shè)計(jì)時(shí)考慮產(chǎn)品性能能夠檢測(cè)的難易程度，也就是說(shuō)
2016-07-28 10:08:06
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針 4Pin H7.00mm 12.00 x 2.50mm 黃銅
2023-09-18 18:32:58
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針 2Pin H9.50mm 6.65 x 2.50mm Brass
2023-09-18 18:32:58
dft可測(cè)試性設(shè)計(jì)，前言可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之一：掃描設(shè)計(jì)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之二：標(biāo)準(zhǔn)IEEE測(cè)試訪問(wèn)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之三：邏輯內(nèi)建自測(cè)試可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之四：通過(guò)MBIST測(cè)試寄存器總結(jié)...
2021-07-22 09:10:42
可掃描觸發(fā)器的作用有哪些？標(biāo)準(zhǔn)IEEE測(cè)試訪問(wèn)方法主要有哪些應(yīng)用領(lǐng)域？可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法有哪幾種？分別有哪些優(yōu)點(diǎn)？
2021-08-09 07:23:28
改進(jìn)PCB電路設(shè)計(jì)規(guī)程提高可測(cè)試性隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個(gè)
2017-11-06 09:11:17
改進(jìn)PCB電路設(shè)計(jì)規(guī)程提高可測(cè)試性隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個(gè)
2017-11-06 10:33:34
可接觸的電路節(jié)點(diǎn)越來(lái)越少；二是像在線測(cè)試( In-Circuit-Test )這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問(wèn)題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測(cè)試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案
2015-01-14 14:34:27
改進(jìn)電路設(shè)計(jì)規(guī)程提高可測(cè)試性 隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間
2009-05-24 23:01:19
This paper addresses testability considerations, both physical and logical, and focuses on both the new constraints and the new freedoms of modern manufacturing test in the ever-changing challenge.
2019-07-17 08:22:14
電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求。進(jìn)一步含義即： 1 檢測(cè)產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范
2018-09-14 16:25:59
電路板改板設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性技術(shù)電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求。進(jìn)一步含義即：麥|斯
2013-10-09 10:57:40
本帖最后由 gk320830 于 2015-3-4 13:43 編輯
電路板設(shè)計(jì)可測(cè)試性技術(shù)電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單
2013-10-08 11:26:12
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電路板設(shè)計(jì)可測(cè)試性技術(shù)電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單
2013-10-16 11:41:06
電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求。進(jìn)一步含義即： 1 檢測(cè)產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范
2018-11-27 10:01:40
Discusses the impact of adding logic analysis testability to PCB's. Examples of today's logic analyzer probing solutions are presented and the advantages and disadvantages of each solution are discussed.
2019-07-26 17:04:50
PCB飛針測(cè)試詳細(xì)介紹 :什么是飛針測(cè)試？飛針測(cè)試是一個(gè)檢查PCB電性功能的方法（開(kāi)短路測(cè)試）之一。飛測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)
2007-10-16 12:44:2912628 白盒測(cè)試的英文全稱:White-box Testing
白盒測(cè)試(White-box Testing，又稱邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試,結(jié)構(gòu)測(cè)
2008-10-22 12:36:173198 系統(tǒng)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、回歸測(cè)試
單元測(cè)試：?jiǎn)卧?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試是對(duì)軟件中的基本組成單位進(jìn)行
2008-10-22 12:38:391651 黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試區(qū)別
黑盒測(cè)試 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試，它是在已知產(chǎn)品所應(yīng)具有的功能，通
2008-10-22 12:40:028981 黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試：已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格，可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符
2008-10-22 12:43:172362 什么是可測(cè)試性
可測(cè)試性的意義可理解為：測(cè)試工程師可以用盡可能簡(jiǎn)單的方法來(lái)檢測(cè)某種元件的特性，看它能否滿足預(yù)期的
2009-05-16 20:40:262877 alpha測(cè)試是由一個(gè)用戶在開(kāi)發(fā)環(huán)境下進(jìn)行的測(cè)試，也可以是公司內(nèi)部的用戶在模擬實(shí)際操作環(huán)境下進(jìn)行的測(cè)試。
2012-05-10 10:03:004876 
射頻電路
測(cè)試原理 05.示波
測(cè)試原理，學(xué)習(xí)射頻電路的好資料?。。?/div>
2016-06-29 14:53:28
0 LTE測(cè)試還有哪些測(cè)試難點(diǎn)待解
2017-01-14 11:22:4110 CP最大的目的就是確保在芯片封裝前，盡可能地把壞的芯片篩選出來(lái)以節(jié)約封裝費(fèi)用。所以基于這個(gè)認(rèn)識(shí)，在CP測(cè)試階段，盡可能只選擇那些對(duì)良率影響較大的測(cè)試項(xiàng)目，一些測(cè)試難度大，成本高但fail率不高的測(cè)試項(xiàng)目，完全可以放到FT階段再測(cè)試。這些項(xiàng)目在CP階段測(cè)試意義不大，只會(huì)增加測(cè)試的成本。
2017-10-27 15:17:2064609 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試，它是通過(guò)測(cè)試來(lái)檢測(cè)每個(gè)功能是否都能正常使用。在測(cè)試中，把程序看作一個(gè)不能打開(kāi)的黑盒子，在完全不考慮程序內(nèi)部結(jié)構(gòu)和內(nèi)部特性的情況下，在程序接口進(jìn)行測(cè)試，它只檢查程序功能是否按照
2017-11-02 10:34:0550159 
白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試是軟件測(cè)試的兩種基本方法。 白盒測(cè)試又稱結(jié)構(gòu)測(cè)試、透明盒測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于代碼的測(cè)試。白盒測(cè)試是一種測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法，盒子指的是被測(cè)試的軟件，白盒指的是盒子是可視的，你清楚
2017-11-02 11:18:0718223 
本文主要講述了web應(yīng)用系統(tǒng)的搭建測(cè)試環(huán)境和web測(cè)試方法，在測(cè)試過(guò)程中，有的僅需要手動(dòng)測(cè)試的，有的需要自動(dòng)化測(cè)試工具的幫助，所以web系統(tǒng)的測(cè)試要求測(cè)試人員有很深的自動(dòng)化測(cè)試技術(shù)。
2018-01-31 17:07:3317913 本文旨在通過(guò)一些UMTS的部分測(cè)試用例來(lái)介紹UMTS測(cè)試項(xiàng)目背后的一些測(cè)試原理以及系統(tǒng)原理。希望大家能通過(guò)本文了解一些測(cè)試項(xiàng)目背后的系統(tǒng)原理以及測(cè)試原理。
2018-03-20 09:34:018623 
Bluetooth SIG的藍(lán)牙測(cè)試規(guī)范定義了藍(lán)牙無(wú)線測(cè)試指標(biāo)及其測(cè)試方法。藍(lán)牙無(wú)線測(cè)試配置包括一臺(tái)測(cè)試儀和被測(cè)設(shè)備DUT，兩者之間可以通過(guò)射頻線相連也可以通過(guò)天線耦合進(jìn)行測(cè)試。測(cè)試儀發(fā)送指令激活DUT進(jìn)入測(cè)試模式，并對(duì)測(cè)試儀與DUT之間的藍(lán)牙鏈路的一些參數(shù)進(jìn)行配置。
2018-03-30 08:58:0389672 
在軟件行業(yè)發(fā)展如火如荼的今天，軟件測(cè)試崗位的重要性愈發(fā)凸顯，而軟件測(cè)試中，最重要的非性能測(cè)試莫屬，今天小編將為大家分享的就是性能測(cè)試相關(guān)知識(shí)，希望對(duì)大家有幫助。 性能測(cè)試在軟件質(zhì)量保障中有著至關(guān)重要
2018-04-03 10:59:4713 本文主要介紹了耐壓測(cè)試儀使用方法及耐壓測(cè)試儀的選用測(cè)試。
2019-12-19 10:04:103575 我們經(jīng)常被問(wèn)到什么是EMC測(cè)試，為什么要進(jìn)行測(cè)試，誰(shuí)應(yīng)該執(zhí)行EMC測(cè)試以及我們?nèi)绾芜M(jìn)行測(cè)試，因此，這篇簡(jiǎn)短的文章將嘗試以非技術(shù)方式回答這些問(wèn)題。希望在此之后，您將理解為什么一致性測(cè)試如此重要，為什么使用能夠正確執(zhí)行測(cè)試的測(cè)試實(shí)驗(yàn)室是至關(guān)重要的，以及在選擇EMC測(cè)試實(shí)驗(yàn)室時(shí)應(yīng)該考慮的因素。
2020-05-12 10:49:4615301 軟件測(cè)試的測(cè)試對(duì)象：多個(gè)測(cè)試的特點(diǎn)
2020-06-29 11:15:022841 α測(cè)試和β測(cè)試的區(qū)別
2020-06-29 11:22:4925176 在電子加工廠的生產(chǎn)過(guò)程中，總會(huì)聽(tīng)到電路板在線測(cè)試這個(gè)詞，那么這個(gè)測(cè)試到底是什么意思呢？其實(shí)在線測(cè)試就是將SMT貼片加工、DIP插件等加工過(guò)程都已經(jīng)完成的電路板按照檢測(cè)點(diǎn)的電氣連接加上上位機(jī)軟件或采集
2020-07-01 10:06:555299 本文旨在通過(guò)一些UMTS的部分測(cè)試用例來(lái)介紹UMTS測(cè)試項(xiàng)目背后的一些測(cè)試原理以及系統(tǒng)原理。希望大家能通過(guò)本文了解一些測(cè)試項(xiàng)目背后的系統(tǒng)原理以及測(cè)試原理。 1、綜述本文主要針對(duì)UMTS終端規(guī)范介紹部分重要測(cè)試項(xiàng)目的測(cè)試原理，主要針對(duì)TS34.121規(guī)范中規(guī)定的射頻測(cè)試項(xiàng)目進(jìn)行介紹。
2020-09-01 10:48:002 詳談黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試的異同及用例
2020-08-19 17:07:215794 
PCBA測(cè)試架的原理很簡(jiǎn)單，是通過(guò)金屬探針連接PCB板上的焊盤或測(cè)試點(diǎn)，在PCB板加電的情況下，獲取測(cè)試電路的電壓值、電流值等典型數(shù)值，從而觀測(cè)所測(cè)試電路是否導(dǎo)通正常。
2020-09-25 11:37:014790 VLSI測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論， 可測(cè)試性設(shè)計(jì)， 邏輯與故障模擬，測(cè)試生成，邏輯自測(cè)試，測(cè)試壓縮，邏輯電路故障診斷，存儲(chǔ)器測(cè)試與BIST，存儲(chǔ)器診斷與BISR，邊界掃描與SOC測(cè)試，納米電路測(cè)試技術(shù)，復(fù)習(xí)及習(xí)題
2020-10-09 08:00:001 為您的印刷電路板確定最佳測(cè)試方法可能是一項(xiàng)艱巨的任務(wù)。有很多因素需要考慮，包括成本，覆蓋范圍和開(kāi)發(fā)提前期。但是，您經(jīng)常會(huì)發(fā)現(xiàn)有兩種流行的測(cè)試策略供您選擇： ICT 測(cè)試與飛針測(cè)試。 兩者中哪一個(gè)
2020-10-14 20:25:425543 關(guān)于測(cè)試，分板級(jí)測(cè)試和芯片測(cè)試，板級(jí)測(cè)試又分無(wú)源測(cè)試，有源測(cè)試。板級(jí)測(cè)試的目的是驗(yàn)證在當(dāng)前特定的這塊PCB上，板材、拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)、走線長(zhǎng)度等等都已固化的情況下，信號(hào)質(zhì)量如何。芯片測(cè)試的目的是驗(yàn)證這款芯片
2021-03-26 11:42:284546 晶圓測(cè)試：接觸測(cè)試、功耗測(cè)試、輸入漏電測(cè)試、輸出電平測(cè)試、全面的功能測(cè)試、全面的動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試、模擬信號(hào)參數(shù)測(cè)試。
2021-04-09 15:55:12102 起毛起球評(píng)級(jí)箱 適用于所有起球勾絲測(cè)試評(píng)級(jí)標(biāo)準(zhǔn)，將試樣與標(biāo)準(zhǔn)圖卡在制定光源下進(jìn)行對(duì)照得出評(píng)級(jí)結(jié)果。適用類型：馬丁代爾起球測(cè)試,ICI起球測(cè)試.ICI勾絲測(cè)試,亂翻式起球測(cè)試,圓軌跡法起毛起球測(cè)試
2021-06-15 11:29:125172 集成電路芯片的測(cè)試（ICtest）分類包括：分為晶圓測(cè)試（wafertest）、芯片測(cè)試（chiptest）和封裝測(cè)試（packagetest）。
2021-07-14 14:31:239713 
粉體的顆粒形狀、細(xì)度、粒度分布和粘聚性，會(huì)直接影響產(chǎn)品的質(zhì)量，因此如何控制好產(chǎn)品質(zhì)量，在各種粉體使用行業(yè)，選用儀器分析檢測(cè)尤為重要。粉體流動(dòng)性測(cè)試儀可測(cè)試粉體流動(dòng)性、安息角（休止角）、松裝密度
2021-10-18 16:21:341405 嵌入式測(cè)試階段：根據(jù)軟件開(kāi)發(fā)階段不同，可分為平臺(tái)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試。1.平臺(tái)測(cè)試包括硬件電路測(cè)試、操作系統(tǒng)及底層驅(qū)動(dòng)程序測(cè)試等等。硬件電路測(cè)試需要所對(duì)應(yīng)的測(cè)試工具來(lái)進(jìn)行測(cè)試。操作系統(tǒng)
2021-10-20 09:59:099 文章目錄1）什么是軟件測(cè)試？測(cè)試的目的：軟件測(cè)試的特點(diǎn)：軟件測(cè)試信息流：軟件測(cè)試的對(duì)象：2）嵌入式軟件測(cè)試2.1 嵌入式軟件2.2 嵌入式軟件測(cè)試嵌入式軟件測(cè)試的特點(diǎn)：3）嵌入式軟件測(cè)試與普通軟件
2021-10-21 13:06:0829 Aigtek安泰線束測(cè)試儀具有導(dǎo)通測(cè)試，二極管測(cè)試，兩線制或四線制電阻測(cè)試，絕緣測(cè)試，耐壓測(cè)試等功能。是一款綜合性線束測(cè)試儀，軟件功能操作，登錄權(quán)限設(shè)置，測(cè)試報(bào)告及數(shù)據(jù)存儲(chǔ)分析等?？涉溄哟蛴C(jī)，探針，轉(zhuǎn)接板，校準(zhǔn)配件等，滿足線纜測(cè)試基本功能需求。
2022-06-17 14:38:182012 彈簧針Pogo Pin連接器需要通過(guò)的測(cè)試項(xiàng)目包括機(jī)械性能測(cè)試、環(huán)境測(cè)試、電氣測(cè)試及精密測(cè)試。機(jī)械性能測(cè)試需要使用紙帶耐磨試驗(yàn)機(jī)、按鍵壽命測(cè)試機(jī)、剝離試驗(yàn)機(jī)、維氏硬度計(jì)等檢驗(yàn)檢測(cè)設(shè)備。下面著重介紹
2022-08-22 09:29:502391 對(duì)數(shù)字IC，采用Vector（向量）測(cè)試。向量測(cè)試類似于真值表測(cè)量，激勵(lì)輸入向量，測(cè)量輸出向量，通過(guò)實(shí)際邏輯功能測(cè)試判斷器件的好壞。如:與非門的測(cè)試對(duì)模擬IC的測(cè)試，可根據(jù)IC實(shí)際功能激勵(lì)電壓、電流，測(cè)量對(duì)應(yīng)輸出，當(dāng)作功能塊測(cè)試。
2022-09-07 10:01:464922 硬件測(cè)試一般是硬件產(chǎn)品的測(cè)試，保證測(cè)試質(zhì)量和順利進(jìn)行，參與硬件測(cè)試技術(shù)和規(guī)范的改進(jìn)和制定。測(cè)試人員需要熟練使用萬(wàn)用表、示波器等各種基本測(cè)試儀器。 軟件測(cè)試是利用人工或自動(dòng)手段運(yùn)行或測(cè)試一個(gè)系統(tǒng)的過(guò)程
2022-11-20 11:25:261206 軟件性能測(cè)試是指測(cè)試I程師運(yùn)用各種自動(dòng)化測(cè)試工具在正常、峰值或者特殊異常情況下對(duì)系統(tǒng)軟件進(jìn)行測(cè)試，以檢測(cè)系統(tǒng)的性能指標(biāo)。性能測(cè) 也被稱為多用戶并發(fā)性能測(cè)試，負(fù)載測(cè)試、穩(wěn)定性測(cè)試、壓力測(cè)試、可靠性測(cè)試
2022-12-22 23:13:39232 什么是功能測(cè)試？ 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試，不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí)，重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試，我們需要
2023-01-03 17:07:351215 一、易用性測(cè)試概述 我們所說(shuō)的易用性測(cè)試是指軟件界面的測(cè)試，而對(duì)于產(chǎn)品的易用性來(lái)說(shuō)，不僅僅是軟件界面，還包括硬件(即產(chǎn)品的外觀)，如按鈕圖標(biāo)是否易懂、菜單是否易找到等。易用性主要研究3個(gè)方向：用戶
2023-02-28 15:01:24856 飛針測(cè)試時(shí)通過(guò)單針去接觸測(cè)試焊盤或測(cè)試點(diǎn)來(lái)對(duì)線路網(wǎng)絡(luò)進(jìn)行逐項(xiàng)檢查，網(wǎng)絡(luò)的復(fù)雜程度及測(cè)試點(diǎn)數(shù)的多少?zèng)Q定了測(cè)試時(shí)間的長(zhǎng)短，以下圖片展示的是飛針測(cè)試機(jī)（左圖）及其測(cè)試時(shí)的工作狀態(tài)（右圖）。
2023-04-04 10:18:03648 在PCBA生產(chǎn)制造的過(guò)程中會(huì)用到兩種測(cè)試架，一種是pcb測(cè)試架，一種是PCBA測(cè)試架，很多客戶會(huì)將二者弄混，有的甚至不知道測(cè)試架是做什么用的，接下來(lái)為大家介紹這兩種測(cè)試架的原理以及其用途。
2023-04-27 15:32:451995 軟件驗(yàn)收測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試是軟件測(cè)試過(guò)程中的兩個(gè)階段。驗(yàn)收測(cè)試是部署軟件之前的最后一個(gè)測(cè)試操作。在軟件產(chǎn)品完成了單元測(cè)試、集成測(cè)試和系統(tǒng)測(cè)試之后，產(chǎn)品發(fā)布 之前所進(jìn)行的軟件測(cè)試活動(dòng)。它是技術(shù)測(cè)試的最后
2023-05-06 21:32:23460 芯片從設(shè)計(jì)到成品有幾個(gè)重要環(huán)節(jié)，分別是設(shè)計(jì)->流片->封裝->測(cè)試，但芯片成本構(gòu)成的比例確大不相同，一般為人力成本20%，流片40%，封裝35%，測(cè)試5%。測(cè)試是芯片各個(gè)環(huán)節(jié)中最
2023-05-22 08:58:331849 測(cè)試治具和測(cè)試座是電子產(chǎn)品測(cè)試時(shí)常用的兩種工具。雖然它們的作用相似，但它們的外形和用途略有不同。
2023-06-09 15:11:33388 IC測(cè)試座是一種專門用于測(cè)試集成電路（IC）的工具，也被稱為IC插座或者IC測(cè)試夾。
2023-06-19 15:07:23576 
TPT中的測(cè)試用例用信號(hào)特征和函數(shù)調(diào)用描述被測(cè)系統(tǒng)的刺激。您可以用連續(xù)的測(cè)試步驟對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)試進(jìn)行建模。對(duì)于更復(fù)雜的測(cè)試用例，TPT提供了混合狀態(tài)機(jī)和測(cè)試步驟的圖形化建模。無(wú)論應(yīng)用哪種方法，由于使用了
2022-11-25 11:15:50608 
車載測(cè)試是什么 車載測(cè)試是指在汽車領(lǐng)域中對(duì)車輛及其相關(guān)系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試和診斷的過(guò)程。它是一種系統(tǒng)性的測(cè)試方法，旨在評(píng)估車輛的功能、性能、安全性、可靠性并確保其符合預(yù)定的標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范。 車載測(cè)試主要包含
2023-07-19 11:03:112732 上海北匯除可提供軟件單元/集成測(cè)試的解決方案之外，也提供單元/集成測(cè)試測(cè)試服務(wù)。測(cè)試范圍：針對(duì)模型/代碼的動(dòng)態(tài)測(cè)試（應(yīng)用層）：?jiǎn)卧?jí)/組件級(jí)/軟件級(jí)。
2022-07-19 15:43:04484 
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試費(fèi)用：
一測(cè)試生成時(shí)間
-測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間
-故障覆蓋
一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)試長(zhǎng)度)
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一可用性
2023-09-01 11:19:34459 
汽車行業(yè)中，任何一款產(chǎn)品的上線都離不開(kāi)測(cè)試工作，在整個(gè)測(cè)試工作中，測(cè)試人員通過(guò)使用不同的測(cè)試技術(shù)來(lái)創(chuàng)建測(cè)試用例，保證測(cè)試活動(dòng)的全面性和高效性。根據(jù)ISTQB可以將測(cè)試技術(shù)分為黑盒、白盒和基于經(jīng)驗(yàn)
2023-09-07 08:27:13357 
芯片測(cè)試座，又稱為IC測(cè)試座、芯片測(cè)試夾具或DUT夾具，是一種用于測(cè)試集成電路（IC）或其他各種類型的半導(dǎo)體器件的設(shè)備。它為芯片提供了一個(gè)穩(wěn)定的物理和電氣接口，使得在不造成芯片或測(cè)試設(shè)備損傷的情況下
2023-10-07 09:29:44811 
ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)滿足電源常規(guī)測(cè)試指標(biāo)，用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高壓，不僅可以提升測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，還可以自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，所測(cè)數(shù)據(jù)也可以生成數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出，方便用戶分析、管理數(shù)據(jù)，提升電源性能，實(shí)現(xiàn)智能化改造。
2023-10-24 16:34:181227 電學(xué)測(cè)試是芯片測(cè)試的一個(gè)重要環(huán)節(jié)，用來(lái)描述和評(píng)估芯片的電性能、穩(wěn)定性和可靠性。芯片電學(xué)測(cè)試包括直流參數(shù)測(cè)試、交流參數(shù)測(cè)試和高速數(shù)字信號(hào)性能測(cè)試等。
2023-10-26 15:34:14629 對(duì)開(kāi)關(guān)電源特性進(jìn)行測(cè)試是為了確保電氣性能的設(shè)計(jì)符合要求，保證電源的工作狀態(tài)。在進(jìn)行電源特性測(cè)試時(shí)需要注意測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和測(cè)試條件，確保測(cè)試符合要求，保證測(cè)試結(jié)果準(zhǔn)確性。
2023-11-02 14:37:47549 浮地測(cè)試是電氣工程中常用的測(cè)試方法之一，其主要作用是檢測(cè)電氣設(shè)備和電路中的接地故障。
2023-11-02 15:41:42490 開(kāi)關(guān)電源電性能測(cè)試需要做諧波測(cè)試，它是屬于輸入特性方面的測(cè)試。
2023-11-03 14:18:57557 
電源功能測(cè)試是評(píng)估電源質(zhì)量好壞、性能、響應(yīng)等的重要測(cè)試方法，也是電源的常規(guī)測(cè)試內(nèi)容，包含電壓調(diào)整率、負(fù)載調(diào)整率、紋波測(cè)試等。納米軟件專注于儀器測(cè)試軟件的開(kāi)發(fā)，針對(duì)電源模塊測(cè)試提供軟硬件解決方案。對(duì)于
2023-11-03 15:50:22593 
安規(guī)測(cè)試儀的類型 安規(guī)測(cè)試儀的應(yīng)用? 安規(guī)測(cè)試儀，也被稱為電器安全測(cè)試儀，是用于對(duì)電器產(chǎn)品進(jìn)行安全性能測(cè)試的儀器設(shè)備。它可以用來(lái)檢測(cè)產(chǎn)品在正常和異常情況下的安全性能，以確保產(chǎn)品符合相關(guān)的安全標(biāo)準(zhǔn)
2023-11-07 10:18:06433 什么是電源高壓測(cè)試？電源高壓測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)什么？如何進(jìn)行電源高壓測(cè)試？ 電源高壓測(cè)試是指對(duì)電源設(shè)備進(jìn)行高壓檢測(cè)，以驗(yàn)證其在額定工作條件下的安全性和可靠性。這項(xiàng)測(cè)試是為了確保電源設(shè)備在正常運(yùn)行過(guò)程中不會(huì)
2023-11-09 15:30:341118 可靠性測(cè)試是半導(dǎo)體器件測(cè)試的一項(xiàng)重要測(cè)試內(nèi)容，確保半導(dǎo)體器件的性能和穩(wěn)定性，保證其在各類環(huán)境長(zhǎng)時(shí)間工作下的穩(wěn)定性。半導(dǎo)體可靠性測(cè)試項(xiàng)目眾多，測(cè)試方法多樣，常見(jiàn)的有高低溫測(cè)試、熱阻測(cè)試、機(jī)械沖擊測(cè)試、引線鍵合強(qiáng)度測(cè)試等。
2023-11-09 15:57:52748 
過(guò)溫保護(hù)測(cè)試是電源模塊保護(hù)功能測(cè)試項(xiàng)目之一，也是電源模塊測(cè)試的重要測(cè)試指標(biāo)，以保證電源模塊過(guò)溫保護(hù)功能正常，確保電源模塊不受損壞。用ate測(cè)試軟件測(cè)試電源模塊過(guò)溫保護(hù)，不僅可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，還可以多維度分析數(shù)據(jù)，指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
2023-11-14 14:56:57453 
焊點(diǎn)推力測(cè)試是一種測(cè)試焊接質(zhì)量的方法，它可以檢測(cè)焊點(diǎn)的強(qiáng)度和耐久性。測(cè)試時(shí)，將焊點(diǎn)固定在測(cè)試機(jī)上，然后施加一定的力量來(lái)測(cè)試焊點(diǎn)的承載能力。測(cè)試結(jié)果可以用來(lái)評(píng)估焊接的質(zhì)量和可靠性，以及確定焊接是否符合
2023-12-11 17:59:52253 
開(kāi)關(guān)電源功率常見(jiàn)的測(cè)試方法有：通過(guò)測(cè)量電壓和電流來(lái)計(jì)算出功率、使用功率計(jì)直接測(cè)出功率。這兩種測(cè)試方法各有優(yōu)點(diǎn)與不足。以自動(dòng)化方式測(cè)試開(kāi)關(guān)電源工率，用開(kāi)關(guān)電源測(cè)試軟件不僅可以提高測(cè)試速度，還可以對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，確保測(cè)試數(shù)據(jù)和結(jié)果可靠性。
2023-12-20 16:03:42637 EMC測(cè)試是電磁兼容性測(cè)試的簡(jiǎn)稱，是評(píng)估電子設(shè)備在電磁環(huán)境中的抗擾能力的一項(xiàng)測(cè)試。主要包括輻射測(cè)試和傳導(dǎo)測(cè)試兩大類。輻射測(cè)試是評(píng)估設(shè)備在使用時(shí)是否會(huì)產(chǎn)生過(guò)多的電磁輻射，可能對(duì)其他設(shè)備或者人體產(chǎn)生干擾
2024-01-25 15:59:55635 探針測(cè)試臺(tái)是一種用于測(cè)試集成電路（IC）的設(shè)備，工作原理是將待測(cè)試的IC芯片安裝在測(cè)試座上，然后通過(guò)探針接觸到芯片的引腳，以測(cè)試芯片的功能和性能。在測(cè)試過(guò)程中，探針測(cè)試臺(tái)會(huì)生成一系列的測(cè)試信號(hào)，通過(guò)
2024-02-04 15:14:19234 一站式PCBA智造廠家今天為大家講講 測(cè)試PCBA需要哪些儀器設(shè)備?PCBA加工所需要用到的檢測(cè)設(shè)備。PCBA測(cè)試(Printed Circuit Board Assembly Testing
2024-03-11 09:40:30132 一、前言 輻射抗擾度測(cè)試是對(duì)對(duì)講機(jī)、移動(dòng)電話、便攜式電話和廣播發(fā)射機(jī)等強(qiáng)發(fā)射機(jī)產(chǎn)生的射頻場(chǎng)的模擬。 二、測(cè)試方法 在輻射抗擾度測(cè)試期間，測(cè)試電波暗室中會(huì)產(chǎn)生射頻場(chǎng)。不同的EMC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)使用不
2024-03-11 15:03:06126 
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