失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。失效機(jī)理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過(guò)程。1、電阻器的主要
2017-10-11 06:11:00
12633 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。 失效機(jī)理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過(guò)程。 1、電阻器的主要失效模式與失效機(jī)理為 1) 開(kāi)路：主要失效機(jī)理為電阻膜燒毀或大面積脫落，基體斷裂，引線(xiàn)
2018-01-16 08:47:1129569 
半導(dǎo)體元器件在整機(jī)應(yīng)用端的失效主要為各種過(guò)應(yīng)力導(dǎo)致的失效，器件的過(guò)應(yīng)力主要包括工作環(huán)境的緩變或者突變引起的過(guò)應(yīng)力，當(dāng)半導(dǎo)體元器件的工作環(huán)境發(fā)生變化并產(chǎn)生超出器件最大可承受的應(yīng)力時(shí)，元器件發(fā)生失效。應(yīng)力的種類(lèi)繁多，如表1，其中過(guò)電應(yīng)力導(dǎo)致的失效相對(duì)其它應(yīng)力更為常見(jiàn)。
2023-01-06 13:36:251931 失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051332 
完整性、品種、規(guī)格等方面)來(lái)劃分材料失效的類(lèi)型。對(duì)機(jī)械產(chǎn)品可按照其相應(yīng)規(guī)定功能來(lái)分類(lèi)。 2.2 按材料損傷機(jī)理分類(lèi) 根據(jù)機(jī)械失效過(guò)程中材料發(fā)生變化的物理、化學(xué)的本質(zhì)機(jī)理不同和過(guò)程特征差異
2011-11-29 16:46:42
分析委托方發(fā)現(xiàn)失效元器件，會(huì)對(duì)失效樣品進(jìn)行初步電測(cè)判斷，再次會(huì)使用良品替換確認(rèn)故障。如有可能要與發(fā)現(xiàn)失效的人員進(jìn)行交流，詳細(xì)了解原始數(shù)據(jù)，這是開(kāi)展失效分析工作關(guān)鍵一步。確認(rèn)其失效機(jī)理，失效機(jī)理是指失效
2020-08-07 15:34:07
，電暈放電。2、失效模式占失效總比例表3、失效機(jī)理分析電阻器失效機(jī)理是多方面的，工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過(guò)程是引起電阻器老化的原因。 (1)、導(dǎo)電材料的結(jié)構(gòu)變化 薄膜電阻器的導(dǎo)電膜層一般用
2019-02-12 16:48:18
”——電阻失效了！失效的電阻阻值發(fā)生變化，甚至出現(xiàn)了開(kāi)路現(xiàn)象，為什么會(huì)這樣呢？下面對(duì)3種常見(jiàn)的電阻失效機(jī)理進(jìn)行分析探討。1、開(kāi)路失效分析A、電阻斷裂開(kāi)路電阻斷裂開(kāi)路多發(fā)生在片式厚膜電阻器上，究其原因
2011-07-25 14:48:18
過(guò)程。v失效原因：導(dǎo)致發(fā)生失效的直接原因，它包括設(shè)計(jì)，制造，使用和管理等方面的問(wèn)題。v失效分析的目的：失效分析是對(duì)失效器件的事后檢查，通過(guò)失效分析可以驗(yàn)證器件是否失效，識(shí)別失效模式，確定失效機(jī)理和失效
2011-11-29 17:13:46
丟失、數(shù)據(jù)寫(xiě)入出錯(cuò)、亂碼、全“0”全“F”等諸多失效問(wèn)題，嚴(yán)重影響了IC卡的廣泛應(yīng)用。因此，有必要結(jié)合IC卡的制作工藝及使用環(huán)境對(duì)失效的IC卡進(jìn)行分析，深入研究其失效模式及失效機(jī)理，探索引起失效
2018-11-05 15:57:30
IGBT的失效機(jī)理 半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)（Safe Operating Area簡(jiǎn)稱(chēng)SOA
2017-03-16 21:43:31
MOSFET的失效機(jī)理至此，我們已經(jīng)介紹了MOSFET的SOA失效、MOSFET的雪崩失效和MOSFET的dV/dt失效。要想安全使用MOSFET，首先不能超過(guò)MOSFET規(guī)格書(shū)中的絕對(duì)最大
2022-07-26 18:06:41
，必須對(duì)所發(fā)生的失效案例進(jìn)行失效分析。 失效分析的基本程序 要獲得PCB失效或不良的準(zhǔn)確原因或者機(jī)理，必須遵守基本的原則及分析流程，否則可能會(huì)漏掉寶貴的失效信息，造成分析不能繼續(xù)或可能得到錯(cuò)誤
2018-09-20 10:55:57
用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15%。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類(lèi)，即致命
2018-01-03 13:25:47
，RXT系列的碳膜電阻在溫度升高到100℃時(shí)，允許的耗散概率僅為標(biāo)稱(chēng)值的20％。但我們也可以利用電阻的這一特性，比如，有經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)的一類(lèi)電阻：PTC（正溫度系數(shù)熱敏電阻）和NTC（負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻
2018-09-12 11:24:58
失效經(jīng)濟(jì)損失之間關(guān)系的排列圖或帕雷托圖，以找出必須首先解決的主要失效機(jī)制、方位和部位。任一產(chǎn)品或系統(tǒng)的構(gòu)成都是有層次的，失效原因也具有層次性，如系統(tǒng)－單機(jī)－部件（組件）－零件（元件）－材料。上一層
2011-11-29 16:39:42
電阻值隨溫度的升高而減小。2.2溫度變化對(duì)電容的影響溫度變化將引起電容的到介質(zhì)損耗變化，從而影響其使用壽命。溫度每升高10℃時(shí)，電容器的壽命就降低50％，同時(shí)還引起阻容時(shí)間常數(shù)變化，甚至發(fā)生因介質(zhì)損耗
2020-09-19 07:59:36
封裝。鏡驗(yàn)。通電并進(jìn)行失效定位。對(duì)失效部位進(jìn)行物理、化學(xué)分析，確定失效機(jī)理。綜合分析，確定失效原因，提出糾正措施。1.收集現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)2、電測(cè)并確定失效模式電測(cè)失效可分為連接性失效、電參數(shù)失效和功能失效
2016-10-26 16:26:27
、電測(cè)并確定失效模式3、非破壞檢查4、打開(kāi)封裝5、鏡驗(yàn)6、通電并進(jìn)行失效定位7、對(duì)失效部位進(jìn)行物理、化學(xué)分析，確定失效機(jī)理。8、綜合分析，確定失效原因，提出糾正措施。1、收集現(xiàn)場(chǎng)數(shù)據(jù)應(yīng)力類(lèi)型試驗(yàn)
2016-12-09 16:07:04
電子器件是一個(gè)非常復(fù)雜的系統(tǒng)，其封裝過(guò)程的缺陷和失效也是非常復(fù)雜的。因此，研究封裝缺陷和失效需要對(duì)封裝過(guò)程有一個(gè)系統(tǒng)性的了解，這樣才能從多個(gè)角度去分析缺陷產(chǎn)生的原因。封裝缺陷與失效的研究方法論封裝
2021-11-19 06:30:00
模式，第二種是短路模式。開(kāi)路模式主要發(fā)生在MOV流過(guò)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí)，通常表現(xiàn)為氧化鋅壓敏電阻本體炸裂，但這種模式不會(huì)引起燃燒現(xiàn)象。短路模式大體上可分為老化失效和暫態(tài)過(guò)電壓破壞兩種
2016-01-13 11:29:04
` 壓敏電阻的失效模式通常是短路，為了防止壓敏電阻的失效造成電源短路而起火，可以在每個(gè)壓敏電阻上串聯(lián)一個(gè)溫度保險(xiǎn)管或熱脫離機(jī)構(gòu)。溫度保險(xiǎn)管應(yīng)與壓敏電阻有良好的熱耦合，當(dāng)壓敏電阻失效（高阻抗短路
2017-06-09 14:59:00
接觸電阻增加；雜質(zhì)和有害離子的影響。由于實(shí)際應(yīng)用中的電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的，因而會(huì)產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機(jī)理，有時(shí)候某單一種失效模式更會(huì)導(dǎo)致其他失效模式或失效機(jī)理串聯(lián)發(fā)生
2019-09-07 07:30:00
電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為
2018-01-05 14:46:57
電子設(shè)備中使用的數(shù)量很大，并且是一種消耗功率的元件，由電阻器失效導(dǎo)致電子設(shè)備故障的比率比較高，據(jù)統(tǒng)計(jì)約占15% 。電阻器的失效模式和原因與產(chǎn)品的結(jié)構(gòu)、工藝特點(diǎn)、使用條件等有密切關(guān)系。電阻器失效可分為兩大類(lèi)
2018-01-02 14:40:37
接觸電阻增加；雜質(zhì)和有害離子的影響。由于實(shí)際應(yīng)用中的電容器是在工作應(yīng)力和環(huán)境應(yīng)力的綜合作用下工作的，因而會(huì)產(chǎn)生一種或幾種失效模式和失效機(jī)理，有時(shí)候某單一種失效模式更會(huì)導(dǎo)致其他失效模式或失效機(jī)理串聯(lián)發(fā)生
2019-10-08 08:00:00
壓敏電阻的失效模式? 熱擊穿由于劣化,內(nèi)部均勻化差及吸收的脈沖能量過(guò)大等原因,會(huì)造成它的發(fā)熱大于散熱,引起熱崩潰(或局部熱崩潰),最終造成薄弱點(diǎn)穿孔而擊穿? 開(kāi)裂由于元件本身存在結(jié)構(gòu)應(yīng)力,在元件吸收
2020-10-16 17:13:51
有沒(méi)有智能電表方面的高手??？我想請(qǐng)教下，智能電表中的電子元器件一般會(huì)出現(xiàn)一些什么樣的失效現(xiàn)象？失效原因一般是什么？非常感謝。
2013-03-08 10:11:21
提高電力電子器件的應(yīng)用可靠性顯得尤為重要。一、失效分析簡(jiǎn)介失效分析的過(guò)程一般是指根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的過(guò)程。器件失效是指其功能完全或
2019-10-11 09:50:49
(1)電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效模式分類(lèi)根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機(jī)理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時(shí)間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進(jìn)行不同的分類(lèi)。電動(dòng)觀(guān)光車(chē)常見(jiàn)的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)型、阻漏
2016-04-05 16:04:05
﹐通過(guò)分析確定失效機(jī)理﹐找出失效原因﹐反饋給元器件的設(shè)計(jì)﹑制造和使用者﹐共同研究實(shí)施糾正措施﹐提高電子元器件的可靠性。[size=17.1429px]電子元器件失效的目的是借助各種測(cè)試分析技朮和分析程序
2019-07-16 02:03:44
；部分功能失效――引線(xiàn)腐蝕或斷裂；致命失效――絕緣子破裂；致命失效――絕緣子表面飛?。徊糠止δ?b class="flag-6" style="color: red">失效引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類(lèi)電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同，失效機(jī)理也
2011-11-18 13:16:54
模式
有：漏液、爆炸、開(kāi)路、擊穿、電參數(shù)惡化等，有關(guān)
失效機(jī)理分析如下。A、漏液鋁電解電容器的工作電解液泄漏是一個(gè)嚴(yán)重問(wèn)題。工作電解液略呈現(xiàn)酸性，漏出的工作電解液嚴(yán)重污染和腐蝕電容器周?chē)钠渌骷?/div>
2011-11-18 13:19:48
`電容器的常見(jiàn)失效模式和失效機(jī)理【中】3.2電容器失效機(jī)理分析3.2.1潮濕對(duì)電參數(shù)惡化的影響空氣中濕度過(guò)高時(shí)，水膜凝聚在電容器外殼表面，可使電容器的表面絕緣電阻下降。此處，對(duì)于半密封結(jié)構(gòu)電容器來(lái)說(shuō)
2011-11-18 13:18:38
引起電容器電參數(shù)惡化的主要失效機(jī)理3.1.4 引起電容器漏液的主要原因3.1.5 引起電容器引線(xiàn)腐蝕或斷裂的主要原因3.1.6 引起電容器絕緣子破裂的主要原因3.1.7 引起絕緣子表面飛弧的主要原因
2011-12-03 21:29:22
(1)電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效模式分類(lèi)根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機(jī)理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時(shí)間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進(jìn)行不同的分類(lèi)。電動(dòng)觀(guān)光車(chē)常見(jiàn)的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)型、阻漏
2018-10-31 10:59:20
電阻器失效模式與機(jī)理壓力釋放裝置動(dòng)作瞬時(shí)過(guò)電壓的產(chǎn)生電解液干涸是鋁電解電容器失效的最主要原因電解液干涸的時(shí)間就是鋁電解電容器的壽命影響鋁電解電容器壽命的參數(shù)與應(yīng)用條件半導(dǎo)體器件失效分析
2021-02-24 09:21:41
行星減速機(jī)與電機(jī)是工業(yè)生產(chǎn)中常見(jiàn)的機(jī)械和電器組合。但是，由于行星減速機(jī)和電機(jī)本身的結(jié)構(gòu)和工作方式的不同，當(dāng)這兩個(gè)部件的搭配不當(dāng)時(shí)，常常會(huì)出現(xiàn)電機(jī)電阻失效的情況，導(dǎo)致設(shè)備的故障甚至危險(xiǎn)?！ ‰姍C(jī)
2023-03-07 15:22:56
請(qǐng)問(wèn)一下元器件失效機(jī)理有哪幾種？
2021-06-18 07:25:31
存在的環(huán)境。c.小孔腐蝕如果腐蝕遷移位置發(fā)生于一個(gè)小孔，一個(gè)小小的電鍍表面的不連續(xù)的孔，這種腐蝕機(jī)理叫小孔腐蝕。小孔本身不影響接觸電阻，而只有小孔變成腐蝕源頭時(shí)，才會(huì)使接觸電阻下降。二、磨損由于磨損
2018-05-09 10:19:35
，反向電壓，過(guò)功耗導(dǎo)致，主要的失效模式是短路。另外，根據(jù)鉭電容的失效統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，鉭電容發(fā)生開(kāi)路性失效的情況也極少。因此，鉭電容失效主要表現(xiàn)為短路性失效。鉭電容短路性失效模式的機(jī)理是：固體鉭電容的介質(zhì)
2020-12-25 16:11:20
溫度系數(shù)應(yīng)盡可能接近零值。二、陶瓷電容的失效模式及失效機(jī)理 1、電容常見(jiàn)的失效模式有：短路、開(kāi)路、參數(shù)（包括電容量、損耗、漏電流等）飄移等。 2、電容常見(jiàn)的失效機(jī)理包括：來(lái)料本身的缺陷、外加電壓
2019-05-05 10:40:53
高壓陶瓷電容器常見(jiàn)失效分析所謂失效，就是在正常的工作時(shí)間內(nèi)無(wú)法正常工作。電容器的主要參數(shù)有容量，即C值；損耗值即DF值；耐電壓，即TV值；絕緣電阻即IR值；還有漏電流值。一顆完美的電容器，以上參數(shù)均
2016-11-10 10:22:02
鈦液泵軸封的失效原因及改進(jìn)設(shè)計(jì)
論文摘要：在對(duì)鈦液泵原有軸封的失效原因進(jìn)行分析和實(shí)驗(yàn)研究的基礎(chǔ)上，篩選出適合的摩擦副材料，并提出了
2009-05-16 00:11:111121 
電容失效原因分析
電容失效在原因很多很多時(shí)候并不是電容的質(zhì)量不好而是有很多因素造成以下是一人之言請(qǐng)各位指正并探討：
1 失效主要
2010-01-14 10:34:036051 從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機(jī)理
1、? 引言
半導(dǎo)體功率器件失效的原因多種多樣。換效后進(jìn)行換效分析也是十分困難和復(fù)雜的。其中失效的主要原因之
2010-02-22 09:32:422665 
Vishay Intertechnology, Inc.推出通過(guò)ESCC-4001/023認(rèn)證、達(dá)到R級(jí)失效率的新系列薄膜包封式貼片電阻——PFRR。PFRR電阻是業(yè)界首款具有低至10ppm/℃的TCR、容差為0.05％的此類(lèi)器件。
Vishay
2010-06-17 09:10:165431 
判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱(chēng)為失效分析。
2012-03-15 14:21:36
121 本文共討論了MEMS加速計(jì)的三種高壓滅菌器失效機(jī)理。分別說(shuō)明了每一種失效機(jī)理的FA方法（通過(guò)建模和測(cè)量）和設(shè)計(jì)改進(jìn)。排除了封裝應(yīng)力作為高壓滅菌器失效的根源。
2013-01-24 10:39:191261 
高壓IGBT關(guān)斷狀態(tài)失效的機(jī)理研究，IGBT原理，PT,NPT,Planar IGBT, Trench IGBT
2016-05-16 18:04:330 電機(jī)驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)失效模式分類(lèi) 根據(jù)失效原因、性質(zhì)、機(jī)理、程度、產(chǎn)生的速度、發(fā)生的時(shí)間以及失效產(chǎn)生的后果，可將失效進(jìn)行不同的分類(lèi)。電動(dòng)觀(guān)光車(chē)常見(jiàn)的失效模式可以分為：損壞型、退化型、松脫型、失調(diào)
2017-03-09 01:43:231760 元器件長(zhǎng)期儲(chǔ)存的失效模式和失效機(jī)理
2017-10-17 13:37:3420 元器件的長(zhǎng)期儲(chǔ)存的失效模式和失效機(jī)理
2017-10-19 08:37:3432 對(duì)電子元器件的失效分析技術(shù)進(jìn)行研究并加以總結(jié)。方法 通過(guò)對(duì)電信器類(lèi)、電阻器類(lèi)等電子元器件的失效原因、失效機(jī)理等故障現(xiàn)象進(jìn)行分析。
2018-01-30 11:33:4110912 電容器的常見(jiàn)失效模式有：――擊穿短路；致命失效――開(kāi)路；致命失效――電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗角正切值增大、絕緣性能下降或漏電流上升等；部分功能失效――漏液；部分功能失效――引線(xiàn)腐蝕或斷裂；致命失效――絕緣子破裂；致命失效――絕緣子表面飛弧；
2018-03-15 11:00:1026174 
針對(duì)電阻制動(dòng)系統(tǒng)在多種失效模式下的建模問(wèn)題，對(duì)電阻制動(dòng)系統(tǒng)的建模方法和可靠性模型參數(shù)估計(jì)方法進(jìn)行了研究，對(duì)電阻制動(dòng)系統(tǒng)易損件及相應(yīng)的失效模式進(jìn)行了統(tǒng)計(jì)，提出一種基于故障樹(shù)的多失效模式可靠性建模方法
2018-03-26 16:03:020 貼片電感失效原因主要表現(xiàn)在五個(gè)方面，分別是耐焊性、可焊性、焊接不良、上機(jī)開(kāi)路、磁路破損等導(dǎo)致的失效，下面金籟科技小編將就這五點(diǎn)做出解釋。 在此之前，我們先了解一下電感失效模式，以及貼片電感失效的機(jī)理
2018-04-10 17:12:318445 
本文通過(guò)大量的歷史資料調(diào)研和失效信息收集等方法，針對(duì)不同環(huán)境應(yīng)力條件下的MEMS慣性器件典型失效模式及失效機(jī)理進(jìn)行了深入探討和分析。
2018-05-21 16:23:456951 
常見(jiàn)的電阻有壓敏電阻，防雷一般都會(huì)使用到的。壓敏電阻的失效模式主要為短路，如果短路時(shí)間過(guò)長(zhǎng)，會(huì)發(fā)生爆炸、起火，損壞周邊的部件；也有可能出現(xiàn)開(kāi)路。壓敏電阻的失效保護(hù)方式有哪幾種呢，一起跟小編來(lái)看
2018-06-01 14:06:55830 或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間，有時(shí)甚至炸機(jī)。今天主要說(shuō)的是電容器，電阻器和電感。 電容器失效模式與機(jī)理 電容器的常見(jiàn)失效模式有：擊穿短路；致命失效開(kāi)路；致命失效電參數(shù)變化（包括電容量超差、損耗
2018-06-07 15:18:137239 1：雪崩失效(電壓失效)，也就是我們常說(shuō)的漏源間的BVdss電壓超越MOSFET的額定電壓，并且超越到達(dá)了一定的才能從而招致MOSFET失效。 2：SOA失效(電流失效)，既超出MOSFET平安工作
2023-03-20 16:15:37231 本文首先分析了壓敏電阻爆裂的原因，其次介紹了壓敏電阻的失效模式，最后介紹了壓敏電阻壞后給電路造成的影響。
2019-06-12 16:52:0416153 壓敏電阻擊穿原因：因?yàn)檠趸\壓敏電阻器不能耐受過(guò)電壓或長(zhǎng)時(shí)間的工頻電壓，一定會(huì)發(fā)生短路和擊穿失效，發(fā)生熱擊穿的破壞性（大電流）。
2019-06-25 14:17:2711366 
外觀(guān)檢查就是目測(cè)或利用一些簡(jiǎn)單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查PCB的外觀(guān)，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷PCB的失效模式。
2020-03-06 14:30:351913 在壓敏電阻器的應(yīng)用過(guò)程中，當(dāng)其出現(xiàn)性能劣化時(shí)，常見(jiàn)的劣化模式有兩種，第一種是開(kāi)路模式，第二種是短路模式。開(kāi)路模式主要發(fā)生在MOV流過(guò)遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出自身承受的浪涌電流時(shí)，通常表現(xiàn)為壓敏電阻本體炸裂，但這種
2020-03-23 16:19:057347 或者全失效會(huì)在硬件電路調(diào)試上花費(fèi)大把的時(shí)間，有時(shí)甚至炸機(jī)。 所以掌握各類(lèi)電子元器件的實(shí)效機(jī)理與特性是硬件工程師比不可少的知識(shí)。下面分類(lèi)細(xì)敘一下各類(lèi)電子元器件的失效模式與機(jī)理。 電阻器失效 失效模式：各種失效的
2020-06-29 11:15:216642 失效分析是一門(mén)發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)，在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開(kāi)發(fā)、改進(jìn)
2021-08-26 17:15:592327 DPA分析，下面會(huì)選擇性提供一些圖片分享。 電極開(kāi)路失效機(jī)理解析： 一般由于內(nèi)電極沒(méi)有鍍上鎳，在過(guò)爐的時(shí)候，由于內(nèi)電極沒(méi)有鍍上鎳不耐焊被“吃掉”，形成開(kāi)路導(dǎo)通，導(dǎo)致電阻器開(kāi)路失效。 ? 為什么沒(méi)有鍍上鎳，原因有很多種，
2021-12-11 10:11:592702 
或斷裂；致命失效 ――絕緣子破裂；致命失效 ――絕緣子表面飛??；部分功能失效 引起電容器失效的原因是多種多樣的。各類(lèi)電容器的材料、結(jié)構(gòu)、制造工藝、性能和使用環(huán)境各不相同，失效機(jī)理也各不一樣。 各種常見(jiàn)失效模式的主要產(chǎn)
2021-12-11 10:13:532688 失效模式：各種失效的現(xiàn)象及其表現(xiàn)的形式。
失效機(jī)理：是導(dǎo)致失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過(guò)程。
2022-02-10 09:49:0618 PCB在實(shí)際可靠性問(wèn)題失效分析中，同一種失效模式，其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。避免造成“冤假錯(cuò)案”發(fā)生。
2022-07-19 09:27:482073 1.案例背景 某產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程中發(fā)生功能不良，初步分析不良是因?yàn)?b class="flag-6" style="color: red">電阻阻值變大導(dǎo)致。 注：電阻阻值標(biāo)稱(chēng)值為1KΩ，實(shí)際達(dá)到幾十或幾百KΩ。 2.分析過(guò)程 2.1 針對(duì)原始失效電阻的分析 電阻#1 電阻
2022-07-25 13:46:297051 摘要：常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TvS)亦不例外。TvS 一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會(huì)將保護(hù)的電子設(shè)備損壞．這是 TvS 生產(chǎn)廠(chǎng)家和使用方都想極力減少或避免
2022-10-11 10:05:014603 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175 PCB失效的機(jī)理，必須遵守基本的原則及分析流程。一般的基本流程是，首先必須基于失效現(xiàn)象，通過(guò)信息收集、功能測(cè)試、電性能測(cè)試以及簡(jiǎn)單的外觀(guān)檢查，確定失效部位與失效模式，即失效定位或故障定位。
2022-11-09 14:35:48691 失去原有的效力。在各種工程中，部件失去原有設(shè)計(jì)所規(guī)定的功能稱(chēng)為失效。失效簡(jiǎn)單地說(shuō)就是“壞了”，但是“壞了”也有很多種情況。
2022-11-30 10:47:53268 案例背景 某樣品貼片電阻在實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中出現(xiàn)故障，經(jīng)排查為電阻值降低導(dǎo)致失效。 分析過(guò)程 外觀(guān)分析 說(shuō)明: 對(duì)樣品電阻進(jìn)行外觀(guān)檢測(cè)，電阻三防漆有氣泡狀態(tài)，整體電阻未見(jiàn)異物附著。 X-Ray分析 說(shuō)明
2023-01-30 15:39:121193 MOSFET的失效機(jī)理本文的關(guān)鍵要點(diǎn)?dV/dt失效是MOSFET關(guān)斷時(shí)流經(jīng)寄生電容Cds的充電電流流過(guò)基極電阻RB，使寄生雙極晶體管導(dǎo)通而引起短路從而造成失效的現(xiàn)象。
2023-02-13 09:30:08829 
引 言 電阻失效發(fā)生的機(jī)理是多方面的，環(huán)境或工作條件若發(fā)生變化都有可能造成電阻的失效。其中，因外部水汽或其它腐蝕性氣體等造成電阻膜腐蝕，進(jìn)而導(dǎo)致電阻開(kāi)路或阻值變大的失效情景時(shí)有發(fā)生。本文依據(jù)此，進(jìn)行
2023-02-20 15:37:48957 介紹了TVS瞬態(tài)抑制二極管的組成結(jié)構(gòu)，失效機(jī)理和質(zhì)量因素，希望對(duì)你們有所幫助。
2023-03-16 14:53:571 MOSFET等開(kāi)關(guān)器件可能會(huì)受各種因素影響而失效。因此，不僅要準(zhǔn)確了解產(chǎn)品的額定值和工作條件，還要全面考慮電路工作中的各種導(dǎo)致失效的因素。本系列文章將介紹MOSFET常見(jiàn)的失效機(jī)理。
2023-03-20 09:31:07638 失效率是可靠性最重要的評(píng)價(jià)標(biāo)準(zhǔn)，所以研究IGBT的失效模式和機(jī)理對(duì)提高IGBT的可靠性有指導(dǎo)作用。
2023-04-20 10:27:041120 
常用電路保護(hù)器件的主要失效模式為短路，瞬變電壓抑制器(TVS)亦不例外。TVS一旦發(fā)生短路失效，釋放出的高能量常常會(huì)將保護(hù)的電子設(shè)備損壞．這是TVS生產(chǎn)廠(chǎng)家和使用方都想極力減少或避免的情況
2023-05-12 17:25:483682 
集成電路封裝失效機(jī)理是指與集成電路封裝相關(guān)的，導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機(jī)械、氣候環(huán)境和輻射等各類(lèi)應(yīng)力因素及其相互作用過(guò)程。
2023-06-26 14:11:26722 集成電路封裝失效機(jī)理是指與集成電路封裝相關(guān)的，導(dǎo)致失效發(fā)生的電學(xué)、溫度、機(jī)械、氣候環(huán)境和輻射等各類(lèi)應(yīng)力因素及其相互作用過(guò)程。根據(jù)應(yīng)力條件的不同，可將失效機(jī)理劃分為電應(yīng)力失效機(jī)理、溫度-機(jī)械應(yīng)力失效
2023-06-26 14:15:31603 
芯片失效分析方法 芯片失效原因分析? 隨著電子制造技術(shù)的發(fā)展，各種芯片被廣泛應(yīng)用于各種工業(yè)生產(chǎn)和家庭電器中。然而，在使用過(guò)程中，芯片的失效是非常常見(jiàn)的問(wèn)題。芯片失效分析是解決這個(gè)問(wèn)題的關(guān)鍵。 芯片
2023-08-29 16:29:112805 肖特基二極管失效機(jī)理? 肖特基二極管（Schottky Barrier Diode, SBD）作為一種快速開(kāi)關(guān)元件，在電子設(shè)備中得到了廣泛的應(yīng)用。但是，隨著SBD所承受的工作壓力和工作溫度不斷升高
2023-08-29 16:35:08971 保護(hù)器件過(guò)電應(yīng)力失效機(jī)理和失效現(xiàn)象淺析
2023-12-14 17:06:45267 
壓接型IGBT器件與焊接式IGBT模塊封裝形式的差異最終導(dǎo)致兩種IGBT器件的失效形式和失效機(jī)理的不同，如表1所示。本文針對(duì)兩種不同封裝形式IGBT器件的主要失效形式和失效機(jī)理進(jìn)行分析。1.焊接式IGBT模塊封裝材料的性能是決定模塊性能的基礎(chǔ)，尤其是封裝
2023-11-23 08:10:07724 
常見(jiàn)的齒輪失效有哪些形式？失效的原因是什么？可采用哪些措施來(lái)減緩失效的發(fā)生？ 齒輪是機(jī)械傳動(dòng)中常用的一種傳動(dòng)方式，它能夠?qū)?dòng)力從一個(gè)軸傳遞到另一個(gè)軸上。然而，在長(zhǎng)時(shí)間使用過(guò)程中，齒輪也會(huì)出現(xiàn)各種失效
2023-12-20 11:37:151057 什么是制動(dòng)電阻？什么原因導(dǎo)致制動(dòng)電阻失效？帶有失效制動(dòng)電阻的驅(qū)動(dòng)器是否可以修復(fù)？ 制動(dòng)電阻是一種用于驅(qū)動(dòng)器系統(tǒng)的電子元件，用于控制電機(jī)的制動(dòng)過(guò)程。它的作用是將電機(jī)產(chǎn)生的失速能量轉(zhuǎn)化為熱量，通過(guò)散熱
2023-12-29 10:45:24343 電阻器是一種常見(jiàn)的電子元件，用于限制電流的流動(dòng)。在電路中，電阻器起著重要的作用，但在使用過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)失效的情況。本文將介紹電阻器的失效模式和機(jī)理。 一、失效模式 開(kāi)路失效：電阻器的阻值變?yōu)闊o(wú)窮大
2024-01-18 17:08:30441 
電解電容是一種常見(jiàn)的電子元件，用于存儲(chǔ)電荷和能量。在電路中，電解電容起著重要的作用，但在使用過(guò)程中可能會(huì)出現(xiàn)失效的情況。本文將介紹電解電容的失效原因和機(jī)理。 一、失效原因 過(guò)電壓：如果電解電容承受
2024-01-18 17:35:23427 
壓敏電阻的工作原理 壓敏電阻的失效保護(hù)機(jī)制解析? 壓敏電阻的工作原理是基于材料的壓電效應(yīng)和可變電阻效應(yīng)。當(dāng)外部施加力或壓力使得壓敏電阻上的壓電材料發(fā)生形變時(shí)，材料內(nèi)部的電荷分布也會(huì)發(fā)生變化，從而導(dǎo)致電阻
2024-02-03 14:08:46205 貼片電阻阻值降低失效分析? 貼片電阻是電子產(chǎn)品中常見(jiàn)的元件之一。在電路中起著調(diào)節(jié)電流、電壓以及降低噪聲等作用。然而，就像其他電子元件一樣，貼片電阻也可能發(fā)生故障或失效。其中最常見(jiàn)的故障之一是電阻阻值
2024-02-05 13:46:22179 
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