近場(chǎng)探頭的EMI預(yù)兼容測(cè)試 - 基于安捷倫CXA信號(hào)分析儀的EMI預(yù)兼容測(cè)試方案

　　使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行EMI 預(yù)兼容測(cè)試和故障

　　診斷

　　在缺乏電波暗室的情況下，很難完全排除一些如寬帶信號(hào)或跳頻信號(hào)的環(huán)境干擾。一個(gè)性價(jià)比更高的方案是使用信號(hào)分析儀和近場(chǎng)探頭來(lái)替代寬帶天線進(jìn)行輻射泄漏預(yù)兼容測(cè)試，故障診斷，以及改進(jìn)效果驗(yàn)證。

　　正規(guī)的輻射泄露測(cè)試，無(wú)論是三米法還是十米法，都是進(jìn)行遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。而使用近場(chǎng)探頭測(cè)量的是近場(chǎng)電磁波。兩者的測(cè)試結(jié)果無(wú)法進(jìn)行數(shù)學(xué)推導(dǎo)換算。這樣我們就不能直接把近場(chǎng)測(cè)試結(jié)果和遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行直接轉(zhuǎn)換。但是一個(gè)基本原則是，近場(chǎng)的輻射越大，遠(yuǎn)場(chǎng)的輻射也必然越大。這就為近場(chǎng)探頭測(cè)試提供了理論依據(jù)。而使用近場(chǎng)探頭測(cè)試，我們需要把新被測(cè)件測(cè)試結(jié)果和一個(gè)已知合格被測(cè)件的近場(chǎng)探頭測(cè)試結(jié)果進(jìn)行比較。針對(duì)這一步測(cè)試，推薦使用電場(chǎng)探頭或者尺寸較大的磁場(chǎng)探頭。這兩類探頭靈敏度一般更高，而對(duì)距離不太敏感。

圖五 使用近場(chǎng)探頭進(jìn)行EMI故障診斷

　　如果一個(gè)新產(chǎn)品在EMI 預(yù)兼容測(cè)試或者標(biāo)準(zhǔn)兼容測(cè)試中失敗，進(jìn)行故障診斷和改進(jìn)是當(dāng)務(wù)之急。沒(méi)有合適的工具，工程師很難找到癥結(jié)并且對(duì)癥下藥。N9000A具有非常優(yōu)秀的測(cè)試靈敏度可以和近場(chǎng)探頭完美配合。在故障定位的過(guò)程中，尺寸較小的磁場(chǎng)探頭可以更好的完成工作。小尺寸的磁場(chǎng)探頭靈敏度更低，但是空間分辨率更高。通過(guò)把探頭在被測(cè)件或者電路上緩慢移動(dòng)，通過(guò)觀測(cè)N9000A上頻譜幅度的變化，工程師可以準(zhǔn)確的把可疑輻射源的區(qū)域定位到很小的一塊電路。

　　通過(guò)近場(chǎng)探頭我們可以較容易的找到輻射源存在的可疑區(qū)域。如果需要進(jìn)一步查找是哪一段電路，管腳甚至芯片是罪魁禍?zhǔn)祝覀兛墒褂檬静ㄆ魈筋^或者高頻探頭需要做接觸式測(cè)量。安捷倫85024A 和U1818A高頻探頭可以分別測(cè)試到最高3 GHz和6GHz的信號(hào)，非常適合進(jìn)行電路接觸式測(cè)量，尤其是針對(duì)具有高頻時(shí)鐘信號(hào)的電路。但是使用高頻探頭測(cè)試的時(shí)候，需要注意保護(hù)探頭和頻譜儀不被高壓損壞。

　　結(jié)論

　　安捷倫N9000A CXA 信號(hào)分析儀和W6141A EMC測(cè)量應(yīng)用軟件為所有電子工程師提供了一個(gè)高效而經(jīng)濟(jì)的專業(yè)EMI 預(yù)兼容測(cè)試方案。這同時(shí)是一個(gè)功能專業(yè)、強(qiáng)大而靈活的故障診斷工具，可適 用于從研發(fā)至正式生產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品生命周期。